[发明专利]阵列基板、显示面板和显示装置

说明书

本发明公开了一种阵列基板、显示面板和显示装置。该阵列基板包括：多条信号线，多条信号线包括第一信号线和第二信号线，第一信号线的负载大于第二信号线的负载；测试引线；控制引线；多个测试开关，测试开关包括输出端、输入端和控制端，每个测试开关的输出端均与一条不同的信号线电连接，每个测试开关的输入端均与一条测试引线电连接，每个测试开关的控制端均与一条控制引线电连接；多个测试开关包括第一测试开关和第二测试开关，第一测试开关的输出端与第一信号线电连接，第二测试开关的输出端与第二信号线电连接；其中，第一测试开关的开态电流大于第二测试开关的开态电流。通过本发明，能够提高测试的准确度。

技术领域

本发明涉及显示技术领域，更具体地，涉及一种阵列基板、显示面板和显示装置。

背景技术

显示面板封装之后，将芯片(IC)或柔性电路板(FPC)压接于显示面板之前，需要对显示面板进行测试，其中，以开关(switch，SW)方式进行测试较为常见。测试时，外部测试信号经开关传递至显示面板的数据信号线上，为像素提供数据信号，测试像素的显示效果。此外，对于将触控功能集成在显示面板中的触控显示面板，除了测试像素的显示效果，还需要测试触控功能。在测试触控功能时，与测试像素的显示效果类似，外部测试信号经开关传递至触控电极线上，为触控电极提供输入信号，测试触控电极的触控检测功能。

随着显示面板的发展，显示面板的形状逐渐多样化，由传统的长方形逐步发展为多种形状，例如，拐角为圆弧形状的显示面板，或者圆形形状的显示面板等异形显示面板，对于该异形显示面板，采用SW方式进行测试时，容易将异形显示面板形状特殊引起的显示差异或触控差异误判为显示面板异常，从而使得这类型显示面板的测试准确性降低。

因此，提供一种阵列基板、显示面板和显示装置，提高异形显示面板测试的准确性，是本领域亟待解决的问题。

发明内容

有鉴于此，本发明提供了一种阵列基板、显示面板和显示装置，解决了现有技术中异形显示面板测试准确性低的技术问题。

为了解决上述技术问题，本发明提出一种阵列基板。

该阵列基板包括：多条信号线，所述多条信号线包括第一信号线和第二信号线，所述第一信号线的负载大于所述第二信号线的负载；测试引线；控制引线；多个测试开关，所述测试开关包括输出端、输入端和控制端，每个所述测试开关的输出端均与一条不同的所述信号线电连接，每个所述测试开关的输入端均与一条所述测试引线电连接，每个所述测试开关的控制端均与一条所述控制引线电连接；所述多个测试开关包括第一测试开关和第二测试开关，所述第一测试开关的输出端与所述第一信号线电连接，所述第二测试开关的输出端与所述第二信号线电连接；其中，所述第一测试开关的开态电流大于所述第二测试开关的开态电流。

另一方面，基于同一发明构思，本发明还提出一种显示面板。

本发明提供的显示面板包括本发明提供的任意一种阵列基板。

再一方面，基于同一发明构思，本发明还提出一种显示装置。

本发明提供的显示装置包括本发明提供的任意一种显示面板。

与现有技术相比，本发明的阵列基板、显示面板和显示装置，实现了如下的有益效果：

对于阵列基板上负载较大的第一信号线和负载较小的第二信号线，设置与第一信号线连接的测试开关的开态电流，大于与第二信号线连接的测试开关的开态电流，也即第一测试开关的开态电流大于第二测试开关的开态电流，使得第一测试开关的驱动能力大于第二测试开关的驱动能力，能够补偿第一信号线与第二信号线的负载差异，从而在进行测试时，能够改善由于信号线自身负载差异而造成的显示不良，进而能够提高测试的准确度。

通过以下参照附图对本发明的示例性实施例的详细描述，本发明的其它特征及其优点将会变得清楚。

附图说明