[发明专利]TFT阵列基板及TFT阵列基板的检测方法

权利要求书

1.一种TFT阵列基板，其特征在于，包括衬底（100）、设于衬底（100）上的多列触控走线（200）、与多列触控走线（200）均电性连接的第一触控检测信号输出模块（310）以及与多列触控走线（200）均电性连接的第二触控检测信号输出模块（320）；

所述第一触控检测信号输出模块（310）包括分别与多条触控走线（200）对应的多个第一开关单元（311）；所述第一开关单元（311）的控制端接入第一控制信号（TPEN1），输出端电性连接对应的触控走线（200）；与奇数列触控走线（200）对应的第一开关单元（311）的输入端接入第一触控检测信号（TPDO），与偶数列触控走线（200）对应的第一开关单元（311）的输入端接入第二触控检测信号（TPDE）；

所述第二触控检测信号输出模块（320）包括分别与多条触控走线（200）对应的多个第二开关单元（321）；所述第二开关单元（321）的控制端接入第二控制信号（TPEN2），输出端电性连接对应的触控走线（200）；与奇数列触控走线（200）对应的第二开关单元（321）的输入端接入第一触控检测信号（TPDO），与偶数列触控走线（200）对应的第二开关单元（321）的输入端接入第二触控检测信号（TPDE）；

所述衬底（100）包括有效显示区（110）、及设于有效显示区（110）一端的芯片绑定区（120）；所述多条触控走线（200）均位于有效显示区（110）内；所述第一触控检测信号输出模块（310）位于芯片绑定区（120）与有效显示区（110）之间；所述第二触控检测信号输出模块（320）位于芯片绑定区（120）远离有效显示区（110）的一端。

2.如权利要求1所述的TFT阵列基板，其特征在于，所述第一触控检测信号输出模块（310）还包括第一控制信号走线（312）及至少一个与所述第一控制信号走线（312）电性连接的第一控制信号产生单元（313）；所述多个第一开关单元（311）的控制端均电性连接第一控制信号走线（312）；所述第一控制信号产生单元（313）用于向第一控制信号走线（312）提供第一控制信号（TPEN1）。

3.如权利要求2所述的TFT阵列基板，其特征在于，所述第一触控检测信号输出模块（310）包括两个第一控制信号产生单元（313），该两个第一控制信号产生单元（313）分别与第一控制信号走线（312）的两端连接。

4.如权利要求1所述的TFT阵列基板，其特征在于，所述第二触控检测信号输出模块（320）还包括第二控制信号走线（322）及至少一个与所述第二控制信号走线（322）电性连接的第二控制信号产生单元（323），所述多个第二开关单元（321）的控制端均电性连接第二控制信号走线（322），所述第二控制信号产生单元（323）用于向第二控制信号走线（322）提供第二控制信号（TPEN2）。

5.如权利要求4所述的TFT阵列基板，其特征在于，所述第二触控检测信号输出模块（320）包括一个第二控制信号产生单元（323），该一个第二控制信号产生单元（323）与第二控制信号走线（322）的一端电性连接。

6.如权利要求1所述的TFT阵列基板，其特征在于，所述第一开关单元（311）为第一N型薄膜晶体管（T1），所述第一N型薄膜晶体管（T1）的栅极为第一开关单元（311）的控制端，源极为第一开关单元（311）的输入端，漏极为第一开关单元（311）的输出端。

7.如权利要求1所述的TFT阵列基板，其特征在于，所述第二开关单元（321）为第二N型薄膜晶体管（T2），所述第二N型薄膜晶体管（T1）的栅极为第二开关单元（321）的控制端，源极为第二开关单元（321）的输入端，漏极为第二开关单元（321）的输出端。

8.如权利要求1所述的TFT阵列基板，其特征在于，所述衬底（100）还包括设于芯片绑定区（120）远离有效显示区（110）一端的柔性电路板绑定区（130）；

所述第二触控检测信号输出模块（320）设于芯片绑定区（120）与柔性电路板绑定区（130）之间。

9.一种TFT阵列基板的检测方法，用于对如权利要求1-8任一项所述的TFT阵列基板进行检测，其特征在于，包括：

所述第一控制信号（TPEN1）控制多个第一开关单元（311）导通，所述第二控制信号（TPEN2）控制多个第二开关单元（321）截止，第一触控检测信号（TPDO）经与奇数列的触控走线（200）对应的第一开关单元（311）输入奇数列的触控走线（200）中，第二触控检测信号（TPDE）经与偶数列的触控走线（200）对应的第一开关单元（311）输入偶数列的触控走线（200）中；

所述第一控制信号（TPEN1）控制多个第一开关单元（311）截止，所述第二控制信号（TPEN2）控制多个第二开关单元（321）导通，第一触控检测信号（TPDO）经与奇数列的触控走线（200）对应的第二开关单元（321）输入奇数列的触控走线（200）中，第二触控检测信号（TPDE）经与偶数列的触控走线（200）对应的第二开关单元（321）输入偶数列的触控走线（200）中。