[发明专利]一种检测电路及显示面板

说明书

本发明公开了一种检测电路包括：检测信号线、与检测信号线且与待检测显示面板数据线相连的多个开关单元以及与多个开关单元连接检测控制信号线，检测信号线包括奇数检测信号线和偶数检测信号线，多个所述开关单元的一端间隔地连接奇数检测信号线和偶数检测信号线，开关单元包括多个串联的开关元件，检测完成之后检测控制信号线输送低电压信号，开关单元保持关断状态，检测电路通过设置多路检测线，多个开关元件串联形成开关单元，同时在测试完成之后不同的开关元件在同一时间输入不同信号，交替开关，从而避免开关元件长期处于同一低电压信号而出现的负漂移现象，防止检测电路短路，提升显示面板的稳定性。

技术领域

本发明涉及液晶显示技术领域，特别涉及一种检测电路及显示面板。

背景技术

液晶显示面板在成盒工艺完成之后需要对产品进行初期检测，筛除一些不良品，避免后期组装完成之后浪费模组材料。

图1为现有技术中的检测电路，包括检测信号线1、与检测信号线1连接且与待检测显示面板4的数据线相连的多个开关元件21以及与多个开关元件21连接的检测控制信号线3，检测完成之后，检测控制信号线3持续输送低电压信号，开关元件保持关断状态。

在测试完成之后，持续以低电压信号关断开关元件21，当测试环境比较严苛，会造成开关元件21的开关特性曲线负漂移，如图2所示，开关元件21出现开关特性曲线负漂移，会使得开关元件21难以关断，造成测试电路短路漏电，如图3所示，驱动芯片5为了维持电压稳定，需要持续输出电流，会使整个驱动芯片5功耗上升或者驱动芯片5工作温度增加。

发明内容

为了解决上述问题，本发明提供了一种检测电路及显示面板，避免了测试电路中开关元件长期关断导致的负漂移现象。

本发明公开了一种检测电路，其包括：检测信号线、与检测信号线连接且与待检测显示面板的数据线相连的多个开关单元以及与多个开关单元连接的检测控制信号线，所述检测信号线包括奇数检测信号线和偶数检测信号线，多个开关单元依序呈奇数列和偶数列排列，奇数列的开关单元均与奇数检测信号线连接，偶数列的开关单元均与偶数检测信号线连接，所述开关单元包括至少两个串联的开关元件，检测完成之后检测控制信号线输送低电压信号，开关单元保持关断状态。

优选的，所述每个开关单元包括第一三极管和第二三极管，第一三极管的漏极和第二三极管的源极连接，第一三极管的源极与待检测显示面板的数据线相连，奇数列的第二三极管的漏极连接奇数检测信号线，偶数列的第二三极管的漏极连接偶数检测信号线。

优选的，所述第一三极管和第二三极管的栅极均与检测控制信号线相连。

优选的，所述检测控制信号线包括第一检测控制信号线和第二检测控制信号线，所述第一三极管的栅极与第一检测控制信号线相连，所述第二三极管的栅极与第二检测控制信号线相连，检测完成之后第一检测控制信号线与第二检测控制信号线交替传输低电压信号，使得第一三极管和第二三极管中至少一个处于关闭状态。

优选的，所述每个开关单元包括第一三极管、第二三极管以及第三三极管，所述第一三极管的漏极和第二三极管的源极相连，第二三极管的漏极与第三三极管的源极相连，第一三极管的源极与待检测显示面板的数据线相连，奇数列的第三三极管的漏极与奇数检测信号线相连，偶数列的第三三极管的漏极与偶数检测信号线相连。

优选的，所述检测控制信号线包括第一检测控制信号线、第二检测控制信号线以及第三检测控制信号线，第一三极管的栅极与第一检测控制信号线相连，第二三极管的栅极与第二检测控制信号线相连，第三三极管的栅极与第三检测控制信号线相连，检测完成之后第一检测控制信号线、第二检测控制信号线及第三检测控制信号线交替传输低电压信号，保证在同一时间至少有一条检测控制信号线传输低电压信号，使得第一三极管、第二三极管以及第三三极管中至少一个处于关闭状态。