[发明专利]一种评价缝纫设备缝纫效果的装置及方法在审
申请号: | 201810389971.8 | 申请日: | 2018-04-27 |
公开(公告)号: | CN108389206A | 公开(公告)日: | 2018-08-10 |
发明(设计)人: | 刘秀峰;邵文军;黄禹;信国强;徐长斌;刘伟男;张勇 | 申请(专利权)人: | 华中科技大学 |
主分类号: | G06T7/00 | 分类号: | G06T7/00;G06T7/13;G06Q10/06 |
代理公司: | 北京众合诚成知识产权代理有限公司 11246 | 代理人: | 夏艳 |
地址: | 430074 湖北*** | 国省代码: | 湖北;42 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 工业摄像机 缝纫设备 缝纫 缝纫效果 数据文件 花样 布料 采集 信号线连接 定量评价 放置平台 环形光源 数字处理 图形分解 支架上部 支架 直观 传输 加工 | ||
1.一种评价缝纫设备缝纫效果的装置,其特征在于,包括设置于支架(4)上部的工业摄像机(3),在支架(4)的中部和下部分别设有环形光源(5)和用于放置被检布料的平台(6);所述工业摄像机(3)通过信号线(2)连接于PC机(1),并通过PC机(1)对工业摄像机(3)进行控制,实现图像采集。
2.如权利要求1所述的一种评价缝纫设备缝纫效果的装置,其特征在于,所述的缝纫设备为全自动花样机或模板机,所述的被检布料是经过全自动花样机或模板机缝纫过的布料。
3.采用权利要求1所述的装置对缝纫效果进行评价的方法,其特征在于,包括以下步骤:
步骤一:设计用于评价缝纫效果的花样图形,并将该花样图形的数据文件导入到PC机中;
步骤二:将所述的花样图形再导入到全自动花样机或模板机中,并基于该花样图形,在标准缝纫速度下加工得到被检布料;
步骤三:将步骤二加工好的被检布料平整的放置于评价装置下,利用工业摄像机对被检布料上的缝纫图形进行采集并传输到PC机中,在PC机中对该缝纫图形进行数字图像处理,形成缝纫图形的数据文件;
步骤四:PC机将采集到的缝纫图形分解成五种关键类型轨迹,即曲线线迹、直线线迹、拐角线迹、倒回缝线迹和缝纫针距,分别对该五种关键类型轨迹进行定量评价,得到经过量化后的评价指标值。
4.如权利要求3所述的评价方法,其特征在于,步骤一所述的花样图形包括样条曲线、闭合矩形、闭合五角星形、闭合圆形和折线,所述的样条曲线和折线在起始和结束处都进行倒缝加固工艺。
5.如权利要求3所述的评价方法,其特征在于,步骤四所述的曲线线迹的评分方法为:将步骤三中所述的缝纫图形中的曲线部分进行缩放和角度变换,使得该曲线部分的起点和终点刚好与花样图形相应的曲线部分的起点和终点重合,并将所述起点与终点之间的曲线部分分解为n个小曲线,其中,n取正整数,第i个小曲线的两个端点与花样图形的曲线部分的最短距离分别为DSi和DEi,i=1~n,缝纫图形与花样图形的绝对偏移量为D,花样图形的曲线部分总长度为S,曲线线迹的偏移度Pd1=D/S。
6.如权利要求3所述的评价方法,其特征在于,步骤四所述的直线线迹的评分方法为:将步骤三中所述的缝纫图形中的直线部分进行缩放和角度变换,使得该直线部分的起点和终点刚好与花样图形相应的直线部分的起点和终点重合,并将所述起点与终点之间的直线部分分解为m个小直线,其中,m取正整数,第j个小直线的两个端点与花样图形的直线部分的最短距离分别为DSj和DEj,j=1~m,缝纫图形与花样图形的绝对偏移量为C,花样图形的直线部分总长度为L,直线线迹的偏移度Pd2=C/L。
7.如权利要求3所述的评价方法,其特征在于,步骤四所述的拐角线迹的评分方法为:提取步骤三中所述缝纫图形中的拐角图形,计算出拐角的内夹角值θ,花样图形相应位置的拐角为η,则拐角线迹的相似度为Ps,将花样图形的所有拐角相似度进行算术平均PEs,PEs值越接近1,拐角线迹的缝纫效果越好,评分越高。
8.如权利要求3所述的评价方法,其特征在于,步骤四所述的倒回缝线迹的评分方法为:将步骤三中所述的缝纫图形中的倒回针部分分解为k针次,第t针倒回缝的偏移量Dt,Dt=(DEt+DSt)/2,倒回缝纫总体偏移量为E,倒回缝的总长度为Y,倒回缝纫的偏移度为Pd3,Pd3=E/Y,其中,DSt是倒回缝第t针首点与正缝倒数第t针尾点的距离,DEt是倒回缝第t针尾点与正缝倒数第t针首点的距离,t=1~k,k为正整数。
9.如权利要求3所述的评价方法,其特征在于,步骤四所述的缝纫针距的评分方法为:统计步骤三中所述的缝纫图形中的所有小线段的长度,计算出小线段的算术平均Es和均方差Ds,算术平均Es越接近花样文件的针距值,评分越高,均方差Ds越小,评分越高。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于华中科技大学,未经华中科技大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201810389971.8/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。