[发明专利]烤箱温控方法、装置及计算机可读存储介质

权利要求书

1.一种烤箱温控方法，其特征在于，所述烤箱温控方法包括以下步骤：

检测烤箱边缘测温点处的第一温度；

获取所述第一温度对应的检测时间；根据预设的差值拟合函数，计算所述烤箱边缘测温点处的第一温度与中心处的第二温度之间的温度差值；将所述第一温度减去所述温度差值，计算获得所述第二温度；

根据所述第二温度进行加热控制；

所述根据预设的差值拟合函数，计算所述烤箱边缘测温点处的第一温度与中心处的第二温度之间的温度差值的步骤包括：

采用预设公式计算所述第一温度与所述第二温度之间的温度差值；

其中，f(t)为所述温度差值，t为所述第一温度对应的检测时间，σ1、μ1、σ2、μ2为预设系数。

2.根据权利要求1所述的烤箱温控方法，其特征在于，所述根据预设的差值拟合函数，计算所述烤箱边缘测温点处的第一温度与中心处的第二温度之间的温度差值的步骤之前，还包括：

获取所述烤箱当前设定的目标温度；

根据预设的目标温度与差值拟合函数的映射关系，确定所述目标温度对应的差值拟合函数；

所述根据预设的差值拟合函数，计算所述烤箱边缘测温点处的第一温度与中心处的第二温度之间的温度差值的步骤包括：

根据确定的所述差值拟合函数，计算所述第一温度与所述第二温度之间的温度差值。

3.根据权利要求1或2所述的烤箱温控方法，其特征在于，所述检测烤箱边缘测温点处的第一温度的步骤之前，还包括：

分别采集烤箱边缘测温点处的试验温度与烤箱中心处的试验温度；

根据所述边缘测温点处的试验温度与所述中心处的试验温度，拟合烤箱边缘测温点处与中心处的温度对应的差值拟合函数。

4.根据权利要求3所述的烤箱温控方法，其特征在于，所述根据所述边缘测温点处的试验温度与所述中心处的试验温度，拟合烤箱边缘测温点处与中心处的温度对应的差值拟合函数的步骤包括：

计算所述边缘测温点处的试验温度与所述中心处的试验温度的试验温度差值；

根据所述试验温度差值，拟合烤箱边缘测温点处与中心处的温度对应的差值拟合函数。

5.根据权利要求4所述的烤箱温控方法，其特征在于，所述边缘测温点处的试验温度与所述中心处的试验温度包括多组，所述根据所述边缘测温点处的试验温度与所述中心处的试验温度，拟合烤箱边缘测温点处与中心处的温度对应的差值拟合函数的步骤包括：

计算多组所述边缘测温点处的试验温度的第一平均温度，以及多组所述中心处的试验温度的第二平均温度；

根据所述第一平均温度和所述第二平均温度，拟合烤箱边缘测温点处与中心处的温度对应的差值拟合函数。

6.根据权利要求5所述的烤箱温控方法，其特征在于，所述计算多组所述边缘测温点处的试验温度的第一平均温度，以及多组所述中心处的试验温度的第二平均温度的步骤之前，还包括：

对多组所述边缘测温点处的试验温度和所述中心处的试验温度进行预处理，剔除其中的异常试验温度；

所述计算多组所述边缘测温点处的试验温度的第一平均温度，以及多组所述中心处的试验温度的第二平均温度的步骤包括：

计算预处理后的多组所述边缘测温点处的试验温度的第一平均温度，以及预处理后的多组所述中心处的试验温度的第二平均温度。

7.一种烤箱温控装置，其特征在于，所述烤箱温控装置包括：存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的烤箱温控程序，所述烤箱温控程序被所述处理器执行时实现如权利要求1-6任一项所述的烤箱温控方法的步骤。

8.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质上存储有烤箱温控程序，所述烤箱温控程序被处理器执行时实现如权利要求1-6任一项所述的烤箱温控方法的步骤。