[发明专利]焦点检测装置在审
申请号: | 201810393667.0 | 申请日: | 2013-05-01 |
公开(公告)号: | CN108401113A | 公开(公告)日: | 2018-08-14 |
发明(设计)人: | 日下洋介 | 申请(专利权)人: | 株式会社尼康 |
主分类号: | H04N5/232 | 分类号: | H04N5/232;H04N5/369;G02B7/34;G02B7/28 |
代理公司: | 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 | 代理人: | 高培培;戚传江 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 偏差量 焦点检测装置 被摄体像 第二信号 散焦量 光学系统 检测 穿过 偏差量计算部 偏差量计算 第二区域 第一区域 信号计算 输出 计算部 摄像部 相加 拍摄 | ||
本发明提供一种焦点检测装置。焦点检测装置包括:检测部,检测穿过形成被摄体像的光学系统的第一区域的光并输出多个第一信号,检测穿过所述光学系统的第二区域的光并输出多个第二信号;像偏差量计算部,基于将所述第一信号与所述第二信号相加而得到的第三信号计算像偏差量,该像偏差量是所述第一信号与所述第二信号的相对的偏差量;以及散焦量计算部,使用所述像偏差量计算散焦量,该散焦量是所述被摄体像的位置与拍摄所述被摄体像的摄像部的偏差量。
本申请是国际申请日为2013年5月1日、国际申请号为PCT/JP2013/062718、国家申请号为201380024280.3、发明名称为“焦点检测装置”的发明专利申请的分案申请。
技术领域
本发明涉及瞳分割型相位差检测方式的焦点检测装置以及像偏差量检测装置。
背景技术
已知瞳分割型相位差检测方式的焦点检测装置(参照专利文献1)。该焦点检测装置生成与穿过光学系统的出瞳的一对焦点检测光束所形成的一对像对应的一对像信号。通过将该一对像信号相对地偏移并施加公知的相关运算,计算表示该相对地偏移的一对像信号串的一致度的相关值。基于该相关值,检测该相对地偏移的一对像信号串的图案的一致度成为最大的偏移量,作为该一对被摄体像的相对的像偏差量。与此同时,根据该像偏差量来检测光学系统的焦点调节状态。该光学系统的焦点调节状态由预定焦点面与检测到的像面之差即散焦量表示。
现有技术文献
专利文献
专利文献1:日本特开2007-233032号公报
发明内容
发明要解决的课题
在上述现有的瞳分割型相位差检测方式的焦点检测装置中,基于一对像图案的一致度来检测像偏差量。因此,在因光学系统的像差等的影响而使一对像图案的同一性、即像的形成位置以外的像波形(像图案)的同一性降低的情况下,产生像偏差检测误差,其结果是,存在焦点检测精度降低的问题。
用于解决课题的技术方案
根据本发明的第1方式,焦点检测装置包括:图像传感器,生成与穿过光学系统的出瞳的一对光束所形成的一对像对应的第一像信号串以及第二像信号串;像偏差量检测部,在每次将所述第一像信号串以及所述第二像信号串相对地各偏移预定量时,通过将所述第一像信号串以及所述第二像信号串中的彼此对应的第一像信号以及第二像信号相加而生成多个合成像信号,基于所述多个合成像信号的评价值,检测所述一对像的相对的像偏差量;以及散焦量计算部,基于所述像偏差量,计算散焦量。
根据本发明的第2方式,优选在第1方式的焦点检测装置中,所述像偏差量检测部将与在每次将所述第一像信号串以及所述第二像信号串各偏移所述预定量时计算的所述评价值的最大值对应的、所述第一像信号串以及所述第二像信号串的相对的偏移量作为所述像偏差量来进行检测。
根据本发明的第3方式,优选在第2方式的焦点检测装置中,所述评价值基于所述多个合成像信号的差分值来进行计算。
根据本发明的第4方式,优选在第3方式的焦点检测装置中,所述评价值基于作为所述多个合成像信号的一阶差分值而获得的所述差分值来进行计算。
根据本发明的第5方式,优选在第4方式的焦点检测装置中,所述一阶差分值是由所述多个合成像信号形成的合成像信号串所包含的具有预定的顺序差的2个合成像信号的差分。
根据本发明的第6方式,优选在第3方式的焦点检测装置中,所述评价值基于作为所述多个合成像信号的信号值的最大值和最小值的差分而获得的所述差分值来进行计算。
根据本发明的第7方式,优选在第3方式的焦点检测装置中,所述评价值基于作为所述多个合成像信号的二阶差分值而获得的所述差分值来进行计算。
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