[发明专利]结构光深度数据空间分辨率的提升方法及装置

权利要求书

1.一种结构光深度数据空间分辨率的提升方法，其特征在于，包括：

采集多张投影条纹图像，其中，所述多张投影条纹图像是对预设物体表面的投影条纹进行拍摄得到的多张条纹图像；

对所述多张投影条纹图像进行相位分析，得到多组相位数据；

根据所述多组相位数据，提升与所述预设物体表面对应的结构光深度数据空间分辨率，以得到提升空间分辨率的结构光深度数据，

采集多张投影条纹图像包括：采集多个图像分辨率中每个图像分辨率所对应的投影条纹图像，得到多张投影条纹图像，其中，所述多个图像分辨率对应多个第二预设拍摄设备中每个第二预设拍摄设备的图像分辨率，所述投影条纹图像是对所述预设物体的表面的投影条纹进行拍摄得到的图像，

根据所述多组相位数据，提升与所述预设物体对应的结构光深度数据空间分辨率，以得到提升空间分辨率的结构光深度数据包括：根据每个图像分辨率所对应的投影条纹图像，确定与每个图像分辨率所对应的绝对相位数据；获取所述预设物体的参考条纹的绝对相位数据；根据所述参考条纹的绝对相位数据和每个图像分辨率所对应的绝对相位数据，确定多个图像分辨率中每个所述图像分辨率对应的绝对相位差数据；根据多个图像分辨率中每个所述图像分辨率对应的绝对相位差数据，提升与所述预设物体对应的结构光深度数据空间分辨率，以得到提升空间分辨率的结构光深度数据，

根据多个图像分辨率中每个所述图像分辨率对应的绝对相位差数据，提升与所述预设物体对应的结构光深度数据空间分辨率，以得到提升空间分辨率的结构光深度数据包括：获取多个图像分辨率中每个图像分辨率与待提升结构光深度数据空间分辨率的分辨率比值；根据所述分辨率比值，确定多个待插值数据；根据所述多个待插值数据，确定每个待插值数据的目标参数，其中，所述目标参数至少包括：横向参数、纵向参数、斜向参数；根据所述每个待插值数据的目标参数，确定多个第二插值系数；根据所述多个第二插值系数，对所述多张投影条纹图像进行插值操作，以得到提升空间分辨率的结构光深度数据。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，采集多张投影条纹图像还包括：

采集多个拍摄角度中每个拍摄角度对应的投影条纹图像，得到多张投影条纹图像，其中，所述多个拍摄角度是在将第一预设拍摄设备沿光轴旋转后，得到的所述多个拍摄角度，所述投影条纹图像是对所述预设物体的表面的投影条纹进行拍摄得到的图像。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在得到多组相位数据之后，所述提升方法还包括：

根据所述多组相位数据，确定所述预设物体的参考条纹的绝对相位数据，其中，所述参考条纹是利用拍摄设备和投影设备与参考平面得到的；以及

根据所述多组相位数据，确定所述预设物体的变形条纹的绝对相位数据，其中，所述变形条纹是利用拍摄设备和投影设备与所述预设物体的表面得到的；

根据所述参考条纹的绝对相位数据和所述变形条纹的绝对相位数据，确定物体绝对相位差数据。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，提升与所述预设物体对应的结构光深度数据空间分辨率包括：

将所述物体绝对相位差数据进行对齐处理；

根据对齐处理后的图像数据，确定多个第一图像空间分辨率；

根据所述第一图像空间分辨率，确定多个第一插值系数，其中，所述第一插值系数用于指示图像中各个像素点之间的空间关系；

根据所述多个第一插值系数，对所述多张投影条纹图像进行插值操作，得到第一预期分辨率的投影条纹图像；

根据所述第一预期分辨率的投影条纹图像，提升与所述预设物体对应的结构光深度数据空间分辨率。