[发明专利]光学元件检测方法、装置、电子设备和存储介质

说明书

本申请涉及一种光学元件检测方法、装置、电子设备和计算机可读存储介质。所述方法包括：获取散斑图，散斑图是投射器中光源产生的激光通过光学元件后所形成的图像，根据散斑图获取散斑图的零级区域及零级区域的亮度均值，零级区域为亮度最大的区域，检测散斑图在零级区域周围的区域的亮度均值，当零级区域的亮度均值与零级区域周围的区域的亮度均值的比值大于第一阈值时，则判定光学元件异常。由于可以根据散斑图零级区域与零级区域周围的区域的零度均值对光学元件进行检测，可以避免受到不同亮度环境的干扰，提高检测的准确性。

技术领域

本申请涉及计算机技术领域，特别是涉及一种光学元件检测方法、装置、电子设备和计算机可读存储介质。

背景技术

随着计算机技术的发展，深度图像技术广泛应用于智能电子设备。电子设备可以通过激光摄像头采集激光通过衍射光学元件照射到物体上所形成的散斑图，获取图像物体的深度信息，从而应用于人脸或物体识别、3D打印、人机交互等场景。

然而，当衍射光学损坏时，激光照射到人眼时会对人眼造成严重的伤害，传统技术中对衍射光学元件的检测容易受到不同亮度环境的干扰，存在检测准确性低的问题。

发明内容

本申请实施例提供一种光学元件检测方法、装置、电子设备和计算机可读存储介质，可以提高光学元件检测的准确性。

一种光学元件检测方法，所述方法包括：。

获取散斑图，所述散斑图是投射器中光源产生的激光通过光学元件后所形成的图像；

根据所述散斑图获取所述散斑图的零级区域及零级区域的亮度均值，所述零级区域为亮度最大的区域；

检测所述散斑图在所述零级区域周围的区域的亮度均值；

当所述零级区域的亮度均值与所述零级区域周围的区域的亮度均值的比值大于第一阈值时，则判定所述光学元件异常。

一种光学元件检测装置，所述装置包括：

散斑图获取模块，用于获取散斑图，所述散斑图是通过激光摄像头采集的激光通过光学元件后照射到物体上所形成的图像；

零级区域获取模块，用于根据所述散斑图获取所述散斑图的零级区域及零级区域的亮度均值，所述零级区域为亮度最大的区域；

检测模块，用于检测所述散斑图在所述零级区域周围的区域的亮度均值；

判定模块，用于当所述零级区域的亮度均值与所述零级区域周围的区域的亮度均值的比值大于第一阈值时，则判定所述光学元件异常。

一种电子设备，包括存储器和处理器，所述存储器中存储有计算机程序，所述计算机程序被所述处理器执行时，使得所述处理器执行如下步骤：

获取散斑图，所述散斑图是投射器中光源产生的激光通过光学元件后所形成的图像；

根据所述散斑图获取所述散斑图的零级区域及零级区域的亮度均值，所述零级区域为亮度最大的区域；

检测所述散斑图在所述零级区域周围的区域的亮度均值；

当所述零级区域的亮度均值与所述零级区域周围的区域的亮度均值的比值大于第一阈值时，则判定所述光学元件异常。

一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如下步骤：

获取散斑图，所述散斑图是投射器中光源产生的激光通过光学元件后所形成的图像；

根据所述散斑图获取所述散斑图的零级区域及零级区域的亮度均值，所述零级区域为亮度最大的区域；

检测所述散斑图在所述零级区域周围的区域的亮度均值；