[发明专利]半导体微波烹饪器具、烹饪控制方法及系统

权利要求书

1.一种半导体微波烹饪器具，其特征在于，包括：

锅体，其具有开口，用于盛放食材；

半导体微波发生器组件，用于提供微波能；

微波屏蔽腔，所述锅体位于所述微波屏蔽腔内，所述微波屏蔽腔的底部设置导入口，所述半导体微波发生器组件设置在所述导入口处；

检测装置，位于所述微波屏蔽腔内；

控制装置，与所述检测装置电连接，所述控制装置用于结合所述检测装置的检测值控制所述半导体微波发生器组件运行的功率；

所述检测装置为温度传感器；

所述微波屏蔽腔包括腔体和门体，所述锅体的开口朝向所述门体，所述温度传感器设置在所述门体朝向所述锅体的一侧。

2.根据权利要求1所述的半导体微波烹饪器具，其特征在于，

所述导入口设置在所述腔体的底壁上。

3.根据权利要求2所述的半导体微波烹饪器具，其特征在于，

所述控制装置包括电连接的触摸电路板和显示屏，所述触摸电路板和所述显示屏位于所述门体上。

4.一种烹饪控制方法，用于如权利要求1至3中任一项所述的半导体微波烹饪器具，其特征在于，包括：

响应于接收到的指定烹饪指令，控制所述半导体微波发生器组件以第一功率P1启动运行；

判断所述锅体内的状态参数是否满足预设条件；

当所述锅体内的状态参数满足预设条件时，控制所述半导体微波发生器组件以指定功率运行，所述指定功率小于所述第一功率P1；

当满足结束条件时，控制所述半导体微波发生器组件停止运行；

所述判断所述锅体内的状态参数是否满足预设条件的步骤包括：

判断所述半导体微波烹饪器具的温度传感器的检测值k是否大于等于检测阈值K；

所述控制所述半导体微波发生器组件以指定功率运行的操作包括：

控制所述半导体微波发生器组件按照预定周期运行，所述预定周期包括以第二功率P2运行第二预设时长T2、以第三功率P3运行第三预设时长T3和停止运行第四预设时长T4，满足P1P3P2，T2T3。

5.根据权利要求4所述的烹饪控制方法，其特征在于，所述检测阈值K的取值范围为91℃≤K≤93℃。

6.根据权利要求4所述的烹饪控制方法，其特征在于，

满足5％P1≤P2≤15％P1，15％P1≤P3≤25％P1；和/或

满足2min≤T2≤4min，1min≤T3≤3min；和/或

满足1min≤T4≤4min。

7.根据权利要求4至6中任一项所述的烹饪控制方法，其特征在于，

在所述判断所述锅体内的状态参数是否满足预设条件的步骤之后，还包括：

当所述锅体内的状态参数满足预设条件时，开始计时；

所述当满足结束条件时，控制所述半导体微波发生器组件停止运行的步骤包括：

当计时达到文火预设时长T时，控制所述半导体微波发生器组件停止运行。

8.根据权利要求7所述的烹饪控制方法，其特征在于，

所述文火预设时长T的取值范围为40min≤T≤180min。