[发明专利]一种结构光投影器的光斑均匀度检测方法和检测系统

权利要求书

1.一种结构光投影器的光斑均匀度检测方法，其特征在于，包括：

步骤a：结构光投影器向平面投射光斑，光斑采集装置向平面采集光斑并获取光斑图像；

步骤b：确定光斑图像中的0级衍射点；

步骤c：以0级衍射点为中心，在不同视场角上各选取若干个取值区域，不同视场角之间构成以0级衍射点为中心的同心圆；

步骤d：分析选取的取值区域的平均亮度值，若任一视场角上选取的若干个取值区域的平均亮度值之间的差异过大，则判断该结构光投影器的光斑均匀度为不合格。

2.根据权利要求1所述的结构光投影器的光斑均匀度检测方法，其特征在于，在步骤b中还包括：确定光斑图像的四个顶角点；在步骤c中还包括：同一视场角上选取的若干个取值区域的中心点分别位于0级衍射点和四个顶角点之间的连线上。

3.根据权利要求1或2所述的结构光投影器的光斑均匀度检测方法，其特征在于，步骤1包括：

步骤a.a：将结构光投影器放置在透光平面前方，将光斑采集装置放置在透光平面后方；

步骤a.b：结构光投影器向透光平面的正面投射光斑，光斑采集装置向透光平面的背面采集光斑以获取光斑图像。

4.根据权利要求1或2所述的结构光投影器的光斑均匀度检测方法，其特征在于，步骤d包括：

步骤d.a：依据选取的各个取值区域中的所有像素点，计算出各个取值区域的第一平均亮度值；

步骤d.b：依据计算出的第一平均亮度值，将各个取值区域中亮度值高于其第一平均亮度值的像素点筛选出来；

步骤d.c：依据各个取值区域中筛选出的像素点，计算出各个取值区域的第二平均亮度值；

步骤d.d：若任一视场角上选取的若干个取值区域的第二平均亮度值之间的差异过大，则判断该结构光投影器的光斑均匀度为不合格。

5.根据权利要求4所述的结构光投影器的光斑均匀度检测方法，其特征在于，步骤d.d包括：

步骤d.d.a：计算出同一视场角上选取的若干个取值区域的第二平均亮度值之间的方差值或标准差值；

步骤d.d.b：若任一方差值或标准差值高于预设值，则判断该结构光投影器光斑的均匀度为不合格。

6.一种结构光投影器的光斑均匀度检测系统，其特征在于，包括：

光斑采集装置，用于采集结构光投影器向平面投射的光斑并获取光斑图像；

处理装置，用于对获取到的光斑图像进行处理分析，并输出光斑均匀度的判断结果；

所述处理装置包括处理器和与所述处理器电性连接的存储器，所述存储器内储存有供所述处理器执行的计算机程序，所述处理器执行该计算机程序时，进行如下步骤：

步骤1：读取所述光斑采集装置获取到的光斑图像；

步骤2：确定光斑图像中的0级衍射点；

步骤3：以0级衍射点为中心，在不同视场角上各选取若干个取值区域，不同视场角之间构成以0级衍射点为中心的同心圆；

步骤4：分析选取的取值区域的平均亮度值，若任一视场角上选取的若干个取值区域的平均亮度值之间的差异过大，则判断该结构光投影器的光斑均匀度为不合格。

7.根据权利要求6所述的结构光投影器的光斑均匀度检测系统，其特征在于，所述处理装置在进行步骤2时还包括：确定光斑图像的四个顶角点；在进行步骤3还包括：同一视场角上选取的若干个取值区域的中心点分别位于0级衍射点和四个顶角点之间的连线上。

8.根据权利要求6或7所述的结构光投影器的光斑均匀度检测系统，其特征在于，还包括：

透光平面，用于承载结构光投影器所投射出来的光斑，以供光斑采集装置进行光斑采集。