[发明专利]一种荧光检测铁离子的UIO-66-NH2的制备方法在审

专利信息
申请号: 201810412854.9 申请日: 2018-05-03
公开(公告)号: CN108593616A 公开(公告)日: 2018-09-28
发明(设计)人: 魏金枝;宫福昕;孙晓君 申请(专利权)人: 哈尔滨理工大学
主分类号: G01N21/64 分类号: G01N21/64
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 150080 黑龙*** 国省代码: 黑龙江;23
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摘要:
搜索关键词: 荧光检测 铁离子 制备 电化学 电化学制备 水体 检测
【权利要求书】:

1.一种荧光检测铁离子的UIO-66-NH2的制备方法,其特征在于,将2-氨基对苯二甲酸和四丁基溴化铵溶解于N,N-二甲基甲酰胺、乙醇和乙酸的的混合溶液,以锆丝为阳极和阴极,浸在所述混合溶液中,并加以直流电压,在溶液中可得所述UIO-66-NH2。

2.如权利要求1所述的一种荧光检测铁离子的UIO-66-NH2的制备方法,其特征在于,所述的锆丝用320目的砂纸打磨,打磨完毕后置于乙醇溶液中超声处理10min,以去除电极表面的杂质,之后60℃烘干备用。

3.如权利要求1所述的一种荧光检测铁离子的UIO-66-NH2的制备方法,其特征在于,所述的2-氨基对苯二甲酸的用量为0.1-0.5g,四丁基溴化铵的用量为0.5-1.0g。

4.如权利要求1所述的一种荧光检测铁离子的UIO-66-NH2的制备方法,其特征在于,所述的N,N-二甲基甲酰胺、乙醇和乙酸的的混合溶液的比例为5:0:1-1:4:1。

5.如权利要求1所述的一种荧光检测铁离子的UIO-66-NH2的制备方法,其特征在于,所述的阳极和阴极间距离为0.5-1.5cm,施加直流电压为6-10V,时间为2-3小时。

6.根据权利要求1所述的一种荧光检测铁离子的UIO-66-NH2的制备方法,其特征在于,将上述制备的UIO-66-NH2用于荧光检测痕量铁离子,检测条件为:激发波长365nm,发射范围400-600nm,激发狭缝10nm,发射狭缝20nm,扫描速度1200nm/min。

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