[发明专利]用于封闭薄膜包装的内含物的定量质量确定的方法和装置有效
申请号: | 201810414273.9 | 申请日: | 2018-05-03 |
公开(公告)号: | CN108801408B | 公开(公告)日: | 2021-07-13 |
发明(设计)人: | K.赛方;M.洛贝尔;J.法里安;J.里姆巴赫 | 申请(专利权)人: | 德国翰辉包装机械有限责任公司 |
主分类号: | G01G9/00 | 分类号: | G01G9/00 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 万欣;李雪莹 |
地址: | 德国阿尔*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 封闭 薄膜 包装 内含 定量 质量 确定 方法 装置 | ||
1.一种用于封闭的薄膜包装(3)的内含物(17)的定量的质量确定的方法,其中,所述薄膜包装(3)相应地具有带有底面(19)且带有在所述底面(19)之外的边缘区域(20)的填充空间(18)以及至少一个金属薄膜层(4,5),包括如下方法步骤:
- 在校准程序中,至少一个不带有内含物的封闭的第一参考包装(1)借助于X射线源(13)被透射,且由此生成第一组初始X射线照片;
- 由所述第一组初始X射线照片推导出质量校准特性图案;
- 至少一个封闭的带有参考内含物(16)的第二参考包装(2)借助于所述X射线源(13)被透射,且由此生成第二组初始X射线照片;
- 由所述第二组初始X射线照片推导出初始参考特性图案;
- 由所述初始参考特性图案和所述质量校准特性图案,通过求差推导出参考测量值;
- 所述至少一个第二参考包装(2)的参考内含物(16)的质量通过称重被定量地确定为参考质量且关联于所述参考测量值;
- 所述校准程序被完成,且跟随有连续的测量运行;
- 在所述连续的测量运行中,封闭的带有各一内含物(17)的薄膜包装(3)借助于所述X射线源(13)被透射,且由此生成至少一组测得的X射线照片;
- 由所述至少一组测得的X射线照片通过以下方式推导出测量特性图案,即,在所述底面(19)内第一总和信号被确定,在所述边缘区域(20)中第二总和信号被确定,且所述测量特性图案通过在所述第一总和信号与第二总和信号之间的求差被确定;
- 由所述测量特性图案和所述质量校准特性图案,通过求差推导出用于各个封闭的薄膜包装(3)的测量值;
- 由所述测量值,在考虑参考质量相对所述参考测量值的关系的情形下定量地确定所述封闭的薄膜包装(3)的内含物(17)的质量。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,在多个薄膜包装(3)的连续的测量运行中共同生成一组测得的X射线照片,且在带有和不带有参考内含物(16)的参考包装(1,2)的先前的校准程序中以相同的数量和相同的空间布置生成第一初始X射线照片和第二组初始X射线照片。
3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,多个薄膜包装(3)以矩阵形式布置。
4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,在所述校准程序开始时图像链的校准借助于不带有参考包装(1,2)的X射线照片的前置组来执行。
5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述第一总和信号和第二总和信号被线性化。
6.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,由测得的X射线照片的组推导出图像特性图案,其对于所述填充空间(18)的底面(19)的位置而言是独特的,且由此进行用于确定所述第一总和信号和第二总和信号的位置校准。
7.一种用于封闭的薄膜包装(3)的内含物的定量的质量确定的装置,其包括带有X射线源(13)、带有X射线成像仪(14)且带有控制单元(15)的设计用于实施根据权利要求1至6中任一项所述的方法的X射线站(9)。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于德国翰辉包装机械有限责任公司,未经德国翰辉包装机械有限责任公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201810414273.9/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。