[发明专利]时间序列InSAR最佳干涉像对选择的方法及装置有效
申请号: | 201810417761.5 | 申请日: | 2018-05-04 |
公开(公告)号: | CN108802729B | 公开(公告)日: | 2021-01-12 |
发明(设计)人: | 张永红;吴宏安;康永辉 | 申请(专利权)人: | 中国测绘科学研究院 |
主分类号: | G01S13/90 | 分类号: | G01S13/90 |
代理公司: | 北京卓岚智财知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 11624 | 代理人: | 任漱晨 |
地址: | 100830 *** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 时间 序列 insar 最佳 干涉 选择 方法 装置 | ||
本发明提供一种时间序列InSAR的最佳干涉像对选择方法及装置,涉及InSAR合成孔径雷达干涉测量技术领域。方法为:在监测区域中选取特征区域;将特征区域的各SAR影像图生成多幅干涉图;根据每幅SAR影像特征区域内各像元的局部信噪比,选择候选点目标;取各SAR影像的候选点目标的交集为特征区域的点目标;定量比较每幅干涉图的平均相干系数,选取最佳干涉像对。本发明通过对特征区域相干性定量比较,克服了现有技术中选择干涉像对盲目性的问题,避免了干涉像对的漏选和错选,实现了最佳干涉像对的完备提取。
本申请要求于2017年10月26日提交中国专利局、申请号为201711012284.6,发明名称为“时间序列InSAR最佳干涉像对选择的方法及装置”的中国专利申请的优先权,其全部内容通过引用结合在本申请中。
技术领域
本发明涉及InSAR(Synthetic Aperture Radar Interferometry,合成孔径雷达干涉测量)技术领域,尤其涉及时间序列InSAR技术中的最佳干涉像对选择方法及装置。
背景技术
合成孔径雷达(SAR,Synthetic Aperture Radar)是20世纪50年代发展起来的最重要的对地观测技术。将干涉测量技术与SAR技术结合而形成的合成孔径雷达干涉测量技术(InSAR,Synthetic Aperture Radar Interferometry)提供了获取地面三维信息的全新方法,它通过两副天线同时观测或通过一副天线两次平行观测,获取地面同一景观的复图像对,根据地面各点在两幅复图像中的相位差,得出各点在两次成像中微波的路程差,从而获得地面目标的高程信息或者形变信息。
由于基于重复轨道的InSAR技术容易受空间失相干、时间失相干和大气干扰等因素的影响,难以应用于稳定的地表形变监测。在现有技术中,为了克服传统InSAR技术的不足,自上世纪90年代末,时间序列InSAR处理技术被提出。时间序列InSAR技术总体上分为两类:以永久散射体干涉(Permanent Scatterer或者Persistent ScattererInterferometry,或PS-InSAR)为代表的单一主影像时间序列InSAR技术和以小基线集技术(Small baseline subset interferometry,或SBAS InSAR)为代表的多主影像时间序列InSAR技术。
在时间序列InSAR技术中,需要选择一定数量的干涉图进行形变参数计算。选择哪些干涉图进行处理,对于形变测量的精度有很大影响。
在实现本发明过程中,发明人发现现有技术中至少存在如下问题:
PS-InSAR技术中,选取哪些干涉图的问题转化成选择哪一幅影像为公共主影像,这种方法得到的干涉图数目是不变的,即M幅影像只能得到M-1幅干涉图。干涉图数量少,严重影响地表形变的测量精度。SBAS方法是现有技术中基于时间序列InSAR技术中最主要的干涉像对选择方法。SBAS方法不要求固定主影像,而是采用时空基线硬阈值法选择干涉像对,以下文中称为时空基线硬阈值法。它克服了PS-InSAR技术得到干涉图数量少的缺点,它通过设置较小的垂直基线阈值和时间基线阈值,将所有时间基线和垂直基线小于设定阈值的干涉图选择出来,从而得到较多的干涉图。但是时空基线硬阈值法选择干涉像对存在盲目性,得到的干涉图质量不高。原因如下:有时,时间基线很小的干涉图因为天气变化的原因,相干性很差,但小于设定阈值而被选取;另一方面,少数空间基线较小但时间基线较大(或空间基线较大但时间基线较小)的高质量干涉图因超过基线阈值,而无法选取。如何减少干涉像对的错选和漏选,自动剔除低质量的干涉像对,以保证所生成干涉图均为优质干涉图,这是时间序列InSAR处理中亟待解决的关键问题。
发明内容
本发明实施例提供一种面向时间序列InSAR最佳干涉像对自动化选择方法及装置。其目的是为了解决现有技术中选择像对的盲目性,减少干涉像对的错选和漏选,从而实现优质干涉像对的完备提取,利于高精度的地表形变的监测。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国测绘科学研究院,未经中国测绘科学研究院许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201810417761.5/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。