[发明专利]一种石斛冻干加工系统及其控制方法有效
申请号: | 201810418655.9 | 申请日: | 2018-05-04 |
公开(公告)号: | CN108592527B | 公开(公告)日: | 2020-03-20 |
发明(设计)人: | 白宁;张贵峰;孔英俊 | 申请(专利权)人: | 黑龙江神守药业有限公司 |
主分类号: | F26B5/06 | 分类号: | F26B5/06;F26B25/22;G01N21/3554;G01N21/359;G05B19/04;A61K36/8984 |
代理公司: | 北京华进京联知识产权代理有限公司 11606 | 代理人: | 孙岩 |
地址: | 157000 黑龙江省牡丹江市东安*** | 国省代码: | 黑龙江;23 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 石斛 加工 系统 及其 控制 方法 | ||
1.一种石斛冻干加工系统,其特征在于,包括真空冷冻干燥机、近红外光谱检测仪和控制器,所述真空冷冻干燥机用于对清洗后的待检石斛进行真空冷冻干燥;所述近红外光谱检测仪用于实时或定时采集真空冷冻干燥机中待检石斛的近红外光谱;所述控制器存储有控制指令,用于控制真空冷冻干燥机工作;所述控制器中还存储有标准石斛样品的不同冻干阶段的水分定量分析模型,控制器获取真空冷冻干燥机的控制参数,判断真空冷冻干燥机处于冻干的阶段,根据所述不同冻干阶段的水分定量分析模型对所述待检石斛近红外光谱进行水分测定,控制器判断待检石斛水分含量是否达到当前冻干阶段的标准石斛样品的水分含量,若判断结果为未达到,控制器继续执行当前的冻干控制数据;若判断结果为是,控制器控制真空冷冻干燥机执行下一阶段的冻干控制数据;当待检石斛的水分含量达到成品冻干石斛的水分含量,控制器则控制真空冷冻干燥机停止工作,所述近红外光谱检测仪采用的扫描波段为5023.7cm-1~4530.8cm-1。
2.如权利要求1所述的石斛冻干加工系统,其特征在于,所述水分定量分析模型的建立方法包括:
获取标准石斛样品在其中一个冻干阶段的近红外光谱;
对所述近红外光谱进行预处理,得到处理后的近红外光谱数据;
以标准石斛样品水分含量作为关键质量控制指标,确定最佳光谱波段;
建立标准石斛样品的关键质量控制指标和与得到处理后的近红外光谱数据之间的水分定量分析模型。
3.如权利要求2所述的石斛冻干加工系统,其特征在于,对所述近红外光谱进行预处理的方法采用多元散射校正方法。
4.如权利要求1所述的石斛冻干加工系统,其特征在于,所述冻干控制数据包括真空压强、真空温度和冻干时间。
5.一种石斛冻干加工控制方法,适用于石斛冻干加工系统,其特征在于,具体包括以下步骤:
控制器控制真空冷冻干燥机对清洗后的待检石斛进行预冻和真空冷冻干燥;
控制器接收近红外光谱检测仪实时或定时采集待检石斛的近红外光谱;
控制器中存储标准石斛样品的不同冻干阶段的水分定量分析模型,控制器获取真空冷冻干燥机的控制参数,判断真空冷冻干燥机处于冻干的阶段,根据不同冻干阶段的标准石斛样品的水分定量分析模型对相应阶段的待检石斛近红外光谱进行水分测定,控制器判断待检石斛水分含量是否达到当前冻干阶段的标准石斛样品的水分含量,得到判断结果;
若判断结果为未达到,控制器继续执行当前的冻干控制数据;若判断结果为是,控制器控制真空冷冻干燥机执行下一阶段的冻干控制数据;当待检石斛的水分含量达到成品冻干石斛的水分含量,控制器则控制真空冷冻干燥机停止工作;
所述近红外光谱检测仪采用的扫描波段为5023.7cm−1~4530.8cm−1。
6.如权利要求5所述的石斛冻干加工控制方法,其特征在于,所述水分定量分析模型的建立方法包括:
获取标准石斛样品在其中一个冻干阶段的近红外光谱;
对所述近红外光谱进行预处理,得到处理后的近红外光谱数据;
以标准石斛样品水分含量作为关键质量控制指标,确定最佳光谱波段;
建立标准石斛样品的关键质量控制指标和与得到处理后的近红外光谱数据之间的水分定量分析模型。
7.如权利要求6所述的石斛冻干加工控制方法,其特征在于,对所述近红外光谱进行预处理的方法采用多元散射校正方法。
8.如权利要求5所述的石斛冻干加工控制方法,其特征在于,所述冻干控制数据包括真空压强、真空温度和冻干时间。
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