[发明专利]基于SAR序贯图像的目标定位方法、装置及存储介质在审

专利信息
申请号: 201810418941.5 申请日: 2018-05-03
公开(公告)号: CN110441769A 公开(公告)日: 2019-11-12
发明(设计)人: 杨威;郭宇;王亚敏;陈杰;李春升 申请(专利权)人: 北京航空航天大学
主分类号: G01S13/90 分类号: G01S13/90
代理公司: 北京英创嘉友知识产权代理事务所(普通合伙) 11447 代理人: 魏嘉熹;南毅宁
地址: 100191*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 探测目标 目标定位 方程组 多普勒 存储介质 立体定位 中心频率 斜距 图像 合成孔径雷达 定位技术 定位算法 高程信息 所在区域 像素单元 求解 角星
【权利要求书】:

1.一种基于SAR序贯图像的目标定位方法,其特征在于,包括:

通过多方位角星载合成孔径雷达SAR获取同一探测目标在至少两个不同方位角度上的SAR图像;

获取所述探测目标的像素单元在每一所述SAR图像中对应的斜距和/或多普勒中心频率,其中,在获取到两个不同方位角度上的所述SAR图像的情况下,至少针对一幅所述SAR图像,所述探测目标的像素单元在所述SAR图像中对应的斜距和多普勒中心频率均被获取;

根据获取到的所述斜距和/或所述多普勒中心频率,基于RD定位算法建立所述探测目标的立体定位方程组,其中,所述立体定位方程组包括每一SAR图像对应的斜距方程以及多普勒方程中的至少三个方程;

求解所述立体定位方程组以确定所述探测目标的位置信息,所述位置信息包括所述探测目标的三维坐标以及经纬度信息。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述获取所述探测目标的像素单元在每一所述SAR图像中对应的斜距,包括:

确定每一所述SAR图像的辅助参数,所述辅助参数包括所述SAR图像方位向和距离向上的像素个数、图像中心点参考斜距、距离向采样率以及方位向采样率;

基于所述辅助参数,通过如下公式计算得到所述探测目标的像素单元在每一所述SAR图像中对应的斜距R:

其中,Rref为所述SAR图像中心点参考斜距,fs为所述SAR图像距离向采样率,c为光速。

3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述获取所述探测目标的像素单元在每一所述SAR图像中对应的多普勒中心频率,包括:

读入每一所述SAR图像对应的多普勒参数文件;

根据所述多普勒参数文件确定所述探测目标的像素单元在每一所述SAR图像中对应的多普勒中心频率。

4.根据权利要求1至3中任一项所述的方法,其特征在于,在获取到两个以上的不同方位角度上的所述SAR图像的情况下,所述立体定位方程组包括每一SAR图像对应的斜距方程,或者,所述立体定位方程组包括每一SAR图像对应的多普勒方程。

5.根据权利要求1至3中任一项所述的方法,其特征在于,所述通过多方位角星载合成孔径雷达SAR获取同一探测目标在至少两个不同方位角度上的SAR图像,包括:

通过多方位角星载合成孔径雷达SAR获取同一探测目标在两个不同方位角度上的SAR图像,得到第一SAR图像和第二SAR图像;

所述获取所述探测目标的像素单元在每一所述SAR图像中对应的斜距和/或多普勒中心频率,包括:

获取所述第一SAR图像的斜距和多普勒中心频率,以及获取所述第二SAR图像的斜距;

所述根据获取到的所述斜距和/或所述多普勒中心频率,基于RD定位算法建立所述探测目标的立体定位方程组,包括:

建立所述第一SAR图像和所述第二SAR图像的斜距方程,以及所述第一SAR图像的多普勒方程。

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