[发明专利]一种用于测量介电常数的微型三层磁耦合微波传感器

权利要求书

1.一种介电常数测量方法，其特征在于该方法是以介电常数为1时的频率为参考，即传感器上方为空气时测得参考频率，再固定在微型三层磁耦合微波传感器顶层电场强度最强的区域放置同样大小的待测介质块，当待测介质块介电常数不同时，会与参考频率产生频率差，这个频率差会随着待测介质块介电常数的变化而不同，因此根据具体的频率差即可推算出待测介质块的介电常数；

上述微型三层磁耦合微波传感器包括上层介质基板、顶层SRRs环、电场强度最大的区域、中间层馈电环、下层介质基板、底层SRRs环；

上层介质基板的顶层印刷耦合顶层SRRs环，底层印刷中间层馈电环；其中中间层馈电环延伸出馈电长脚，用于连接SMA连接头；

下层介质基板的底层印刷耦合底层SRRs环；

顶层SRRs环、中间层馈电环、底层SRRs环的中心位于同一直线；

所述的顶层SRRs环、底层SRRs环开口处均向环内延伸；顶层SRRs环、底层SRRs环尺寸相同但开口方向相反；其中顶层SRRs环环内延伸部分为电场强度最大的区域。