[发明专利]一种温度控制器检验方法及检验系统在审

专利信息
申请号: 201810424138.2 申请日: 2018-05-07
公开(公告)号: CN108387329A 公开(公告)日: 2018-08-10
发明(设计)人: 夏越超;杨康;陈旭 申请(专利权)人: 天津瑞能电气有限公司
主分类号: G01K15/00 分类号: G01K15/00;G05B23/02
代理公司: 天津滨海科纬知识产权代理有限公司 12211 代理人: 杨慧玲
地址: 300385 天津*** 国省代码: 天津;12
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摘要:
搜索关键词: 温度控制器 数据处理器 温度传感器 检验系统 继电器 检验 恒温恒湿 信号连接 温度测试电路 恒温恒湿箱 继电器串联 测试过程 测试效率 测试
【权利要求书】:

1.一种温度控制器检验方法,其特征在于:包括恒温恒湿箱(1)、温度控制器(2)、继电器(3)、数据处理器(4)、PC机(5)和温度传感器(6),

所述温度控制器(2)与所述继电器(3)串联组成温度测试电路,所述继电器(3)和所述温度传感器(6)均信号连接至所述数据处理器(4),所述数据处理器(4)信号连接至所述PC机(5),其具体步骤如下:

步骤一:将所述温度控制器(2)和所述温度传感器(6)均安装在所述恒温恒湿箱(1)内,并改变所述恒温恒湿箱(2)内的温度来模拟现场温度变化;

步骤二:所述数据处理器(4)采集所述温度传感器(6)的数据,同时根据所述继电器(3)反馈点的动作状态判断所述温度控制器(2)的动作情况,并将数据处理后通过所述PC机(5)显示;

步骤三:所述数据处理器(4)可对多组并联的所述温度测试电路进行采集。

2.一种温度控制器检验系统,其特征在于:包括恒温恒湿箱、断路器、数据处理器、温度传感器、PC机和多组并联的温度测试电路,

温度控制器S1的一端连接至端子排X1,另一端与继电器K1的线圈串联组成第一温度测试电路后连接至端子排X2,温度控制器S2与继电器K2的线圈串联后组成第二温度测试电路,所述第二温度测试电路与所述第一温度测试电路并联,所述端子排X2、所述端子排X1分别经断路器Q1连接至电源的L极、N极,所述继电器K1的常开触点、所述继电器K2的常开触点分别连接至所述数据处理器U1的引脚1、引脚2、引脚3和引脚4,温度传感器B1、温度传感器B2分别连接至所述数据处理器U1的引脚A、引脚B、引脚C和引脚D,所述数据处理器U1将采集到的数据处理后通过所述PC机显示,所述温度控制器S1和所述温度控制器S2均安装在所述恒温恒湿箱内。

3.根据权利要求2所述的一种温度控制器检验系统,其特征在于:所述温度控制器S1包括热电偶和双金属片,所述热电偶安装在所述双金属片附近。

4.根据权利要求2所述的一种温度控制器检验系统,其特征在于:所述数据处理器U1的CPU型号为XS128系列。

5.根据权利要求2所述的一种温度控制器检验系统,其特征在于:所述温度测试电路至少为2组。

6.根据权利要求2所述的一种温度控制器检验系统,其特征在于:所述PC机为电脑。

7.根据权利要求2所述的一种温度控制器检验系统,其特征在于:所述温度传感器S1为非接触式温度传感器。

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