[发明专利]大米加工精度的检测装置和大米加工控制系统、方法

权利要求书

1.一种大米加工精度的检测装置，其特征在于，包括：

排布设备和滑道，所述排布设备的进料端连接上游大米加工产线，所述排布设备的出料端连接所述滑道的一端，所述排布设备用于将从所述上游大米加工产线取样的大米排布成单粒米流，并控制大米逐粒沿所述滑道滑下；

N个图像采集设备，N个所述图像采集设备均设置在所述滑道下方，当大米从所述滑道滑至每个所述图像采集设备视场内时，对应的所述图像采集设备分别以相应视角采集所述大米的图像，以获取N个图像，其中，N为大于或者等于3的整数；

图像处理设备，所述图像处理设备分别与N个所述图像采集设备相连，所述图像处理设备用于根据M个大米的M*N个图像获取大米加工精度，其中，M为大于或者等于1的整数。

2.根据权利要求1所述的大米加工精度的检测装置，其特征在于，所述图像处理设备执行如下步骤：

A，对每个大米的N个图像进行图像处理以判断该大米上是否存在米皮；

B，如果所述大米上不存在米皮，则从所述大米的N个图像中获取大米的最大面积Smax，并计无皮的大米数为n＝n+1，其中，n为大于或者等于0的整数；

C，如果所述大米上存在米皮，则计算每个图像中的米皮面积与大米面积的比值，并获取最大比值对应的米皮面积Sp、大米面积Spm，以及计有皮的大米数为m＝m+1，其中，m为大于或者等于0的整数；

D，重复上述步骤A～C，直至m+n＝M；

E，计算R＝Spt/S和r＝K/M，其中，Spt＝Sp₁+…+Sp_i+…+Sp_K，i＝1,2,…,K，Sp_i为有米皮的第i个大米的米皮面积，S＝Spm₁+…+Spm_i+…+Spm_K+Smax₁+…+Smax_j+…+Smax_M-K，j＝1,2,…,M-K，Spm_i为有米皮的第i个大米的面积，Smax_j为第j个大米的面积，K为M个大米中有米皮的大米数目；

F，根据R和r确定大米加工精度。

3.根据权利要求2所述的大米加工精度的检测装置，其特征在于，所述图像处理设备包括加工精度数据库，所述加工精度数据库中存储有R、r与大米加工精度之间的对应关系。

4.根据权利要求1所述的大米加工精度的检测装置，其特征在于，还包括：

取样设备，所述取样设备设置在所述上游大米加工产线中，所述取样设备用于从所述上游大米加工产线选取预设米量作为精度检测样本，并将所述精度检测样本传输至所述排布设备。

5.根据权利要求1所述的大米加工精度的检测装置，其特征在于，还包括传输设备，所述传输设备设置在N个所述图像采集设备的下方，所述传输设备用于将从所述滑道滑出的大米传输至下游大米加工产线的米流中或者储料仓中。

6.根据权利要求1所述的大米加工精度的检测装置，其特征在于，所述图像采集设备包括图像传感器、光源和背景板，其中，所述图像传感器与所述背景板相对设置，且所述视点位于所述图像传感器和所述背景板之间，所述光源设置在所述图像传感器的一侧。

7.根据权利要求6所述的大米加工精度的检测装置，其特征在于，所述光源设置在所述图像传感器的上方或者下方。

8.根据权利要求7所述的大米加工精度的检测装置，其特征在于，所述图像传感器采用线阵图像传感器或者面阵图像传感器。

9.一种大米加工控制系统，其特征在于，包括：

大米加工装置，所述大米加工装置设置在上游大米加工产线中；

至少一个如权利要求1-8中任一项所述的检测装置；

控制器，所述控制器分别与所述大米加工装置和所述检测装置相连，所述控制器用于根据每个处于工作状态的检测装置输出的大米加工精度对所述大米加工装置的加工参数进行调节。