[发明专利]一种双光束磁光谱仪在审
申请号: | 201810429087.2 | 申请日: | 2018-04-24 |
公开(公告)号: | CN108387855A | 公开(公告)日: | 2018-08-10 |
发明(设计)人: | 张向平;方晓华;陈兴威 | 申请(专利权)人: | 金华职业技术学院 |
主分类号: | G01R33/12 | 分类号: | G01R33/12;G01Q60/24 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 321017 *** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 通孔 凸透镜 探测器 探针 光谱仪 效应信号 圆台轴线 激光器 激光束 偏振片 双光束 棱镜 物理测量技术 原子力显微镜 透镜 探测器记录 信号发生器 垂直入射 反射光强 改变装置 分束器 示波器 样品台 磁光 次磁 两组 入射 反射 测量 计算机 分析 | ||
1.一种双光束磁光谱仪,主要包括计算机、激光器I、偏振片I、激光器II、偏振片II、凸透镜I、分束器、凸透镜II、透镜台、原子力显微镜、探针、样品、样品台、磁体、信号发生器、示波器、凸透镜III、沃拉斯顿棱镜I、探测器I、探测器II、沃拉斯顿棱镜II、探测器III、探测器IV,xyz为空间直角坐标系、xy平面为水平面、zx平面与水平面垂直,探针位于原子力显微镜下端,样品位于样品台上,所述样品、样品台、磁体依次位于探针下方,所述探针为原子力显微镜探针且为圆台形状,所述圆台的上底面直径为3微米、下底面直径为1.5微米,所述圆台轴线方向与水平面垂直,所述透镜台透光,
其特征是:所述探针中在zx平面内具有通孔I、通孔II和通孔III,所述通孔II的轴线沿所述圆台轴线方向,所述通孔I和通孔III的轴线分别位于所述通孔II轴线的两侧、且均与所述通孔II轴线成45度角;激光器I发出激光束I,所述激光束I能够依次经偏振片I、凸透镜I、透镜台、原子力显微镜、通孔I,并照射到样品上,从样品反射的光能够依次经通孔III、原子力显微镜、透镜台、凸透镜III、沃拉斯顿棱镜I,然后分成两束正交的偏正光并分别进入探测器I和探测器II,探测器I和探测器II均电缆连接计算机,信号发生器和示波器分别电缆连接磁体;激光器II发出激光束II,所述激光束II能够依次经偏振片II、分束器、凸透镜II、透镜台、原子力显微镜、通孔II,并照射到样品上,从样品反射的光能够依次经通孔II、原子力显微镜、透镜台、凸透镜III、沃拉斯顿棱镜II,然后分成两束正交的偏振光并分别进入探测器III和探测器IV,探测器III和探测器IV均电缆连接计算机,样品台能够三维移动并能够在xy平面内绕其中心轴旋转。
2.根据权利要求1所述的一种双光束磁光谱仪,其特征是:所述探针中的通孔I、通孔II和通孔III的直径均为200纳米。
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