[发明专利]一种双光束磁光谱仪在审

专利信息
申请号: 201810429087.2 申请日: 2018-04-24
公开(公告)号: CN108387855A 公开(公告)日: 2018-08-10
发明(设计)人: 张向平;方晓华;陈兴威 申请(专利权)人: 金华职业技术学院
主分类号: G01R33/12 分类号: G01R33/12;G01Q60/24
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 321017 *** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 通孔 凸透镜 探测器 探针 光谱仪 效应信号 圆台轴线 激光器 激光束 偏振片 双光束 棱镜 物理测量技术 原子力显微镜 透镜 探测器记录 信号发生器 垂直入射 反射光强 改变装置 分束器 示波器 样品台 磁光 次磁 两组 入射 反射 测量 计算机 分析
【权利要求书】:

1.一种双光束磁光谱仪,主要包括计算机、激光器I、偏振片I、激光器II、偏振片II、凸透镜I、分束器、凸透镜II、透镜台、原子力显微镜、探针、样品、样品台、磁体、信号发生器、示波器、凸透镜III、沃拉斯顿棱镜I、探测器I、探测器II、沃拉斯顿棱镜II、探测器III、探测器IV,xyz为空间直角坐标系、xy平面为水平面、zx平面与水平面垂直,探针位于原子力显微镜下端,样品位于样品台上,所述样品、样品台、磁体依次位于探针下方,所述探针为原子力显微镜探针且为圆台形状,所述圆台的上底面直径为3微米、下底面直径为1.5微米,所述圆台轴线方向与水平面垂直,所述透镜台透光,

其特征是:所述探针中在zx平面内具有通孔I、通孔II和通孔III,所述通孔II的轴线沿所述圆台轴线方向,所述通孔I和通孔III的轴线分别位于所述通孔II轴线的两侧、且均与所述通孔II轴线成45度角;激光器I发出激光束I,所述激光束I能够依次经偏振片I、凸透镜I、透镜台、原子力显微镜、通孔I,并照射到样品上,从样品反射的光能够依次经通孔III、原子力显微镜、透镜台、凸透镜III、沃拉斯顿棱镜I,然后分成两束正交的偏正光并分别进入探测器I和探测器II,探测器I和探测器II均电缆连接计算机,信号发生器和示波器分别电缆连接磁体;激光器II发出激光束II,所述激光束II能够依次经偏振片II、分束器、凸透镜II、透镜台、原子力显微镜、通孔II,并照射到样品上,从样品反射的光能够依次经通孔II、原子力显微镜、透镜台、凸透镜III、沃拉斯顿棱镜II,然后分成两束正交的偏振光并分别进入探测器III和探测器IV,探测器III和探测器IV均电缆连接计算机,样品台能够三维移动并能够在xy平面内绕其中心轴旋转。

2.根据权利要求1所述的一种双光束磁光谱仪,其特征是:所述探针中的通孔I、通孔II和通孔III的直径均为200纳米。

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