[发明专利]贴标位置控制方法、控制系统、存储介质、及贴标机

说明书

本发明提供贴标位置控制方法、控制系统、存储介质、及贴标机。本发明的技术方案，通过获取待贴标裁片的外轮廓轨迹的坐标信息；根据所述外轮廓轨迹的坐标信息确定所述裁片的几何中心点坐标；将所述几何中心点坐标作为最终的贴标位置，从而避免现有技术中根据文件里的错误坐标信息贴标而导致将标签贴于裁片外部的问题，大大提高了贴标签的效率及准确程度。

技术领域

本发明涉及贴标签技术领域，特别是涉及贴标位置控制方法、控制系统、存储介质、及贴标机。

背景技术

在服装加工过程中，通常会将布料裁切成各种规格的裁片，再将不同规格的裁片缝制成衣物等。为便于区分不同规格、不同型号的裁片，就需要在各个裁片上贴相应的标签。为保证贴在裁片上的标签能起到良好的标识效果，标签所贴的最佳位置一般选择裁片的中心。

目前，贴标机设备的贴标位置都是通过读取文件中提供的坐标信息将标签贴到指定位置。然而，文件中的坐标信息有时提供的并不正确，导致贴标机会将标签贴在裁片所在区域之外。

发明内容

鉴于以上所述现有技术的缺点，本发明的目的在于提供贴标位置控制方法、控制系统、存储介质、及贴标机，用于解决现有技术中根据文件里的错误坐标信息会将标签贴于裁片外部的技术问题。

为实现上述目的及其他相关目的，本发明提供一种贴标位置控制方法，包括：获取待贴标裁片的外轮廓轨迹的坐标信息；根据所述外轮廓轨迹的坐标信息确定所述裁片的几何中心点坐标；将所述几何中心点坐标作为最终的贴标位置。

于本发明一实施例中，根据所述外轮廓轨迹的坐标信息确定所述裁片的几何中心点坐标，包括：识别出所述裁片沿X轴方向的最大横坐标与最小横坐标，以及所述裁片沿Y轴方向的最大纵坐标与最小纵坐标；查找所述外轮廓轨迹中横坐标最接近(最大横坐标+最小横坐标)/2值的多个轨迹点，并计算这几个轨迹点的纵坐标的平均值，据以作为所述几何中心点的纵坐标；并且，查找所述外轮廓轨迹中纵坐标最接近(最大纵坐标+最小纵坐标)/2值的多个轨迹点，并计算这几个轨迹点的横坐标的平均值，据以作为所述几何中心点的横坐标；基于计算得到的横坐标与纵坐标确定所述几何中心点坐标。

于本发明一实施例中，所述最接近(最大横坐标+最小横坐标)/2值的多个轨迹点包括横坐标大于或小于(最大横坐标+最小横坐标)/2值的轨迹点；所述最接近(最大纵坐标+最小纵坐标)/2值的多个轨迹点包括纵坐标大于或小于(最大纵坐标+最小纵坐标)/2值的轨迹点。

于本发明一实施例中，横坐标大于(最大横坐标+最小横坐标)/2值的轨迹点数量与横坐标小于(最大横坐标+最小横坐标)/2值的轨迹点数量相同或不同；纵坐标大于(最大纵坐标+最小纵坐标)/2值的轨迹点数量与纵坐标小于(最大纵坐标+最小纵坐标)/2值的轨迹点数量相同或不同。

为实现上述目的及其他相关目的，本发明提供一种贴标位置控制系统，包括：输入模块，用于获取待贴标裁片的外轮廓轨迹的坐标信息；控制模块，用于根据所述外轮廓轨迹的坐标信息确定所述裁片的几何中心点坐标；以及用于将所述几何中心点坐标作为最终的贴标位置。

于本发明一实施例中，所述控制模块根据所述外轮廓轨迹的坐标信息确定所述裁片的几何中心点坐标的实现方式包括：识别出所述裁片沿X轴方向的最大横坐标与最小横坐标，以及所述裁片沿Y轴方向的最大纵坐标与最小纵坐标；查找所述外轮廓轨迹中横坐标最接近(最大横坐标+最小横坐标)/2值的多个轨迹点，并计算这几个轨迹点的纵坐标的平均值，据以作为所述几何中心点的纵坐标；并且，查找所述外轮廓轨迹中纵坐标最接近(最大纵坐标+最小纵坐标)/2值的多个轨迹点，并计算这几个轨迹点的横坐标的平均值，据以作为所述几何中心点的横坐标；基于计算得到的横坐标与纵坐标确定所述几何中心点坐标。

于本发明一实施例中，所述最接近(最大横坐标+最小横坐标)/2值的多个轨迹点包括横坐标大于或小于(最大横坐标+最小横坐标)/2值的轨迹点；所述最接近(最大纵坐标+最小纵坐标)/2值的多个轨迹点包括纵坐标大于或小于(最大纵坐标+最小纵坐标)/2值的轨迹点。