[发明专利]一种四晶单色仪的光路校准方法及校准装置有效
申请号: | 201810432509.1 | 申请日: | 2018-05-08 |
公开(公告)号: | CN108872279B | 公开(公告)日: | 2020-12-01 |
发明(设计)人: | 吴文俊;张伊唯;周佳琪;马栋梁;张念站 | 申请(专利权)人: | 苏州矩阵光电有限公司 |
主分类号: | G01N23/20008 | 分类号: | G01N23/20008;G01N23/207 |
代理公司: | 北京三聚阳光知识产权代理有限公司 11250 | 代理人: | 马永芬 |
地址: | 215614 江苏省苏州市*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 单色仪 校准 方法 装置 | ||
1.一种四晶单色仪的光路校准方法,其特征在于,包括如下步骤:
提供一光源(1),第一接收屏(2)以及四晶单色仪(3);所述四晶单色仪(3)包括第一晶体(31),第二晶体(32),第三晶体(33)以及第四晶体(34);
使所述光源(1)发出的入射光照射到所述第一接收屏(2)上,并记录所述第一接收屏(2)上的光斑位置为第一光斑位置;
保持所述光源(1)和所述第一接收屏(2)的相对位置不变,并将所述四晶单色仪(3)设置于所述光源(1)与所述第一接收屏(2)之间;
使所述光源(1)发出的入射光照射到所述所述第一晶体(31)上,所述入射光依次经过所述第一晶体(31)、所述第二晶体(32)、所述第三晶体(33)和所述第四晶体(34)反射后的出射光照射到所述第一接收屏(2)上,并记录所述第一接收屏(2)上的光斑位置为第二光斑位置;
调整所述第一晶体(31)、所述第二晶体(32)、所述第三晶体(33)和第四晶体(34)中的至少一个晶体,以使所述第二光斑位置与所述第一光斑位置为同一位置。
2.根据权利要求1所述的四晶单色仪的光路校准方法,其特征在于,所述调整所述第一晶体(31)、所述第二晶体(32)、所述第三晶体(33)和所述第四晶体(34)中的至少一个晶体,以使所述第二光斑位置与所述第一光斑位置为同一位置,包括如下步骤:
在所述第二晶体(32)和所述第三晶体(33)之间设置第二接收屏;所述第二接收屏将所述第一晶体(31)、所述第二晶体(32)、所述第三晶体(33)和所述第四晶体(34)分隔为由所述第一晶体(31)和所述第二晶体(32)组成的第一晶体组,以及由所述第三晶体(33)和所述第四晶体(34)组成的第二晶体组;
调整所述第一晶体组中的至少一个晶体,以使所述入射光经过所述第一晶体组的反射后,照射到所述第二接收屏上的指定位置;
移除所述第二接收屏,并调整所述第二晶体组中的至少一个晶体,以使所述第二光斑位置与所述第一光斑位置为同一位置。
3.根据权利要求1或2所述的四晶单色仪的光路校准方法,其特征在于,所述入射光通过所述四晶单色仪(3)的入射狭缝(35)照射到所述第一晶体(31)上,所述出射光通过所述四晶单色仪(3)的出射狭缝(36)射出所述四晶单色仪(3)。
4.根据权利要求3所述的四晶单色仪的光路校准方法,其特征在于,所述第一晶体(31)、所述第二晶体(32)、所述第三晶体(33)和所述第四晶体(34)均为平面镜。
5.根据权利要求4所述的四晶单色仪的光路校准方法,其特征在于,所述光源(1)为激光源。
6.根据权利要求4所述的四晶单色仪的光路校准方法,其特征在于,所述第一接收屏(2)上的光斑的直径小于等于2mm。
7.一种四晶单色仪的光路校准装置,其特征在于,包括:
光源(1);
第一接收屏(2),所述第一接收屏(2)和所述光源(1)设置于光学平台的同一轨道上;
四晶单色仪(3),包括第一晶体(31),第二晶体(32),第三晶体(33)以及第四晶体(34);所述四晶单色仪(3)可拆卸地设置于所述光源(1)和所述第一接收屏(2)之间;
所述四晶单色仪的光路校准装置用于实现权利要求1-6任一项所述的四晶单色仪的光路校准方法。
8.根据权利要求7所述的四晶单色仪的光路校准装置,其特征在于,还包括:
第二接收屏,所述第二接收屏可拆卸地设置于所述第二晶体(32)和所述第三晶体(33)之间,所述第二接收屏将所述第一晶体(31)、所述第二晶体(32)、所述第三晶体(33)和所述第四晶体(34)分隔为由所述第一晶体(31)和所述第二晶体(32)组成的第一晶体组,以及由所述第三晶体(33)和所述第四晶体(34)组成的第二晶体组。
9.根据权利要求7或8所述的四晶单色仪的光路校准装置,其特征在于,所述光源(1)为激光源。
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