[发明专利]数据一致性校验方法、装置、存储介质及电子设备

说明书

本公开涉及一种数据一致性校验方法、装置、存储介质及电子设备，能够在生产系统持续生产的过程中，准确完成数据一致性校验。该方法包括：将生产库与备份库进行数据比对，得到差异数据信息，所述差异数据信息包括本次数据比对确定的第一差异数据的第一存储位置；针对所述差异数据信息进行首次差异校验，所述首次差异校验包括：比对所述生产库以及所述备份库在所述第一存储位置的数据，以再次确定所述生产库以及所述备份库在所述第一存储位置的数据是否一致，得到新的差异数据信息；基于所述新的差异数据信息，确定数据一致性校验结果。

技术领域

本公开涉及数据校验领域，具体地，涉及一种数据一致性校验方法、装置、存储介质及电子设备。

背景技术

在实际的生产环境中，通常会借助数据备份软件备份线上生产系统的数据库，作为灾备，或者用于其他需求。但是，随着线上的业务的进行，生产库中的数据会实时发生变更，因此，若是在生产过程中对生产库以及备份库的数据进行一致性校验，校验结果并不准确。

相关技术中，企业通常会在无业务产生的时间点或者暂停生产系统来进行数据一致性校验，以便在两端数据库保证静止无变更数据的情况下进行数据比对，确保数据一致性校验的正确进行。

由上可知，相关技术对于线上生产库以及备份库的数据一致性校验需要线上停止生产，在比对数据量过大(亿级别)，或者服务器硬件配置较低的情况下，数据比对会耗时十数小时甚至更多，生产系统持续的停止会严重影响生产效率。

发明内容

本公开的主要目的是提供一种数据一致性校验方法、装置、存储介质及电子设备，能够在生产系统持续生产的过程中，准确完成数据一致性校验。

为了实现上述目的，本公开第一方面提供一种数据一致性校验方法，包括：

将生产库与备份库进行数据比对，得到差异数据信息，所述差异数据信息包括本次数据比对确定的第一差异数据的第一存储位置；

针对所述差异数据信息进行首次差异校验，所述首次差异校验包括：比对所述生产库以及所述备份库在所述第一存储位置的数据，以再次确定所述生产库以及所述备份库在所述第一存储位置的数据是否一致，得到新的差异数据信息；

基于所述新的差异数据信息，确定数据一致性校验结果。

可选地，所述基于所述新的差异数据信息，确定数据一致性校验结果包括：

基于所述新的差异数据信息再进行至少一次差异校验，并将最后一次差异校验得到的差异数据信息作为所述数据一致性校验结果。

可选地，所述基于所述新的差异数据信息再进行至少一次所述差异校验，并将最后一次差异校验得到的差异数据信息作为所述数据一致性校验结果，包括：

在接收到用户触发的差异校验指令时，进行下一次差异校验，并且，每一次差异校验后，展示本次差异校验结果，并提示用户是否需要再次进行差异校验；

在接收到用户触发的结束差异校验的指令时，将最后一次差异校验得到的差异数据信息作为所述数据一致性校验结果。

可选地，所述基于所述新的差异数据信息再进行至少一次所述差异校验，并将最后一次差异校验得到的差异数据信息作为所述数据一致性校验结果，包括：

在所述首次差异校验结束后，等待预设时长并再次进行一次差异校验，并将本次差异检验得到的差异数据信息作为所述数据一致性校验结果，其中所述预设时长是根据所述生产库与所述备份库之间的数据同步延迟时长设定的。

可选地，所述将最后一次差异校验得到的差异数据信息作为所述数据一致性校验结果，包括：