[发明专利]一种实现内孔基准对比测量径向跳动的检测装置在审
申请号: | 201810433065.3 | 申请日: | 2018-05-08 |
公开(公告)号: | CN110455231A | 公开(公告)日: | 2019-11-15 |
发明(设计)人: | 孙文彬 | 申请(专利权)人: | 上海新宇箴诚电控科技有限公司 |
主分类号: | G01B21/00 | 分类号: | G01B21/00 |
代理公司: | 31225 上海科盛知识产权代理有限公司 | 代理人: | 应小波<国际申请>=<国际公布>=<进入 |
地址: | 201802上海市*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 基准对比 定位机构 测量径向 测量需求 定位插槽 检测装置 配合连接 重复测量 测量头 内孔 跳动 防护 | ||
1.一种实现内孔基准对比测量径向跳动的检测装置,其特征在于,该装置包括基准对比检测机构和定位机构,所述的基准对比检测机构与定位机构通过定位插槽配合连接。
2.根据权利要求1所述的一种实现内孔基准对比测量径向跳动的检测装置,其特征在于,所述的基准对比检测机构包括两套结构相同的检测组,两套所述的检测组高低分布,分别用于检测基准高度及检测高度。
3.根据权利要求2所述的一种实现内孔基准对比测量径向跳动的检测装置,其特征在于,每组所述的检测组包括产品位移检测传感器、导向轴承和检测头,所述的检测头的头部与导向轴承直接连接,所述的检测头的尾部连接产品位移检测传感器,所述的产品位移检测传感器连接定位机构。
4.根据权利要求3所述的一种实现内孔基准对比测量径向跳动的检测装置,其特征在于,所述的检测头的尾部通过复位弹簧连接产品位移检测传感器。
5.根据权利要求3所述的一种实现内孔基准对比测量径向跳动的检测装置,其特征在于,所述的定位机构包括轴端定位块和旋转主轴,所述的产品位移检测传感器套装于旋转主轴上,所述的轴端定位块安装于旋转主轴的端部。
6.根据权利要求5所述的一种实现内孔基准对比测量径向跳动的检测装置,其特征在于,所述的旋转主轴上设有卡槽,所述的轴端定位块设有对应的凸台,所述的卡槽和凸台配合固定轴向测量主体。
7.根据权利要求6所述的一种实现内孔基准对比测量径向跳动的检测装置,其特征在于,所述的凸台设有开孔,所述的检测头可穿过开孔,所述的轴端定位块通过检测头穿过开孔固定基准对比检测机构。
8.根据权利要求6所述的一种实现内孔基准对比测量径向跳动的检测装置,其特征在于,所述的轴端定位块为可快速更换的多尺寸轴端定位块。
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