[发明专利]TFT基板的制作方法在审

专利信息
申请号: 201810433816.1 申请日: 2018-05-08
公开(公告)号: CN108682654A 公开(公告)日: 2018-10-19
发明(设计)人: 刘司洋 申请(专利权)人: 深圳市华星光电技术有限公司
主分类号: H01L21/84 分类号: H01L21/84;H01L27/12
代理公司: 深圳市德力知识产权代理事务所 44265 代理人: 林才桂;程晓
地址: 518132 广东*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 金属线 光阻图案层 减小 制程 干法蚀刻 光罩 狭缝 制作 第二金属层 金属线图案 尺寸损失 厚度减小 湿法蚀刻 制程条件 底边缘 损失量 图案层 外缘处 偏移 叠加 残留
【权利要求书】:

1.一种TFT基板的制作方法,其特征在于,包括以下步骤:

步骤S1、提供一衬底基板(10),在所述衬底基板(10)上沉积并图案化形成第一金属线(11),在所述第一金属线(11)与衬底基板(10)上沉积形成间隔层(15);

步骤S2、在所述间隔层(15)上沉积第二金属层(20),在所述第二金属层(20)上涂覆光阻层(80),提供第二光罩(90),所述第二光罩(90)具有第二金属线图案(95),所述第二金属线图案(95)两侧外缘处设有狭缝(96),利用所述第二光罩(90)对所述光阻层(80)进行曝光、显影,得到对应位于所述第一金属线(11)上方的光阻图案层(85),所述光阻图案层(85)的两侧对应所述狭缝(96)形成凹槽(86),且光阻图案层(85)两侧的厚度相对于中部的厚度减小;

步骤S3、以所述光阻图案层(85)为遮蔽层,对所述第二金属层(20)进行进行第一次湿法蚀刻;

步骤S4、对所述光阻图案层(85)进行干法蚀刻,减薄所述光阻图案层(85);

步骤S5、以减薄后的光阻图案层(85)为遮蔽层,对所述第二金属层(20)进行进行第二次湿法蚀刻,去除光阻图案层(85),得到对应位于所述第一金属线(11)上方的第二金属线(21)。

2.如权利要求1所述TFT基板的制作方法,其特征在于,所述第二金属线图案(95)每侧外缘处设有两条平行间隔的狭缝(96),所述第二金属线图案(95)包括遮光主线(951)以及在所述遮光主线(951)两侧由内向外依次设置的且与所述遮光主线(951)相平行的内遮光副线(952)和外遮光副线(953);

所述狭缝(96)包括第一透光狭缝(961)和第二透光狭缝(962),所述内遮光副线(952)与遮光主线(951)之间构成所述第一透光狭缝(961),所述内遮光副线(952)与外遮光副线(953)之间构成所述第二透光狭缝(962)。

3.如权利要求2所述的TFT基板的制作方法,其特征在于,所述第一透光狭缝(961)、内遮光副线(952)、第二透光狭缝(962)及外遮光副线(953)的宽度分别为a、b、c、d,其中,0.5μm≤a≤1.5μm,0.5μm≤b≤1.5μm,0.5μm≤c≤1.5μm,0.5μm≤d≤1.5μm。

4.如权利要求1所述的TFT基板的制作方法,其特征在于,所述第二金属线图案(95)的宽度为L2,L2≤7μm。

5.如权利要求1所述的TFT基板的制作方法,其特征在于,所述步骤S1还包括提供第一光罩(40),所述第一金属线(11)通过所述第一光罩(40)制作形成,所述第一光罩(40)具有用于对应形成第一金属线(11)的第一金属线图案(41)。

6.如权利要求5所述的TFT基板的制作方法,其特征在于,所述第一金属线图案(41)的宽度为L1,L1≤9μm。

7.如权利要求5所述的TFT基板的制作方法,其特征在于,所述第一金属线图案(41)的宽度为L1,所述第二金属线图案(95)的宽度为L2,L1-L2≤2μm。

8.如权利要求1所述的TFT基板的制作方法,其特征在于,所述步骤S2中所提供的第二光罩(90),其上的狭缝(96)通过在第二光罩(90)上挖空相应部分而形成。

9.如权利要求1所述的TFT基板的制作方法,其特征在于,所述第一金属线(11)和第二金属线(21)的材料均为钼、铝、铜、钛中的一种或多种的合金。

10.如权利要求1所述的TFT基板的制作方法,其特征在于,所述间隔层(15)为氧化硅层、氮化硅层或两者的组合。

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