[发明专利]一种钽电容的后道生产检测工艺及生产线

权利要求书

1.一种钽电容的后道生产检测工艺，其特征在于：将前道生产工序生产得到半成品的呈条带状连接在一起的钽电容分割成单个的钽电容，采用能够装载单个所述钽电容的流转盘来装载所述钽电容，通过所述流转盘在各个生产检测设备之间流转钽电容，同时单个的所述钽电容在所述流转盘中能够露出自身的电极用于进行测试，所述流转盘装载所述钽电容后能够被用在各个生产检测设备的测试中。

2.根据权利要求1所述的一种钽电容的后道生产检测工艺，其特征在于，包括以下步骤：

步骤1、条带状钽电容测试：对前道生产工序生产得到半成品的呈条带状连接在一起的钽电容进行容值、损耗、漏电流、ESR测试，剔除不合格的电容；

步骤2、电容分割整形：将经步骤1测试合格的条带状钽电容的引线框切断，分割成单个钽电容，并将单个所述钽电容的引脚折弯整形；

步骤3、外形筛选：对经步骤2整形得到的单个钽电容进行识别，剔除外观有瑕疵的钽电容；

步骤4、电容装盘将经步骤3筛选得到的钽电容安装在流转盘，通过流转盘在后续的步骤中流转钽电容；

步骤5、前道老化夹具接触测试：将步骤4中安装有钽电容的所述流转盘流转置于老化夹具中，对钽电容在老化夹具内的接触情况进行测试；

步骤6、老化：将步骤5测试合格的钽电容通过所述流转盘流转，钽电容装载在所述流转盘中送入老化设备进行老化；

步骤7、后道老化夹具接触测试：经步骤6老化得到的钽电容通过所述流转盘流转后，在所述流转盘中进行短路、开路、探针接触不良进行测试；

步骤8、高低温浪涌测试：经步骤7测试合格的钽电容通过所述流转盘流转后，在所述流转盘中进行高低温浪涌测试；

步骤9、高低温4参数测试机：经步骤8测试合格的钽电容通过所述流转盘流转后, 在所述流转盘中分别进行高温和低温下的容值、损耗、漏电流、ESR测试；

步骤10、常温4参数测试；经步骤9测试合格的钽电容通过所述流转盘流转后, 在所述流转盘中分别进行常温下的容值、损耗、漏电流、ESR测试。

3.一种基于权利要求2所述的钽电容的后道生产检测工艺的钽电容的后道生产线，其特征在于，包括顺序设置的：

条带状钽电容测试机，用于对前道生产工序生产得到的呈条带状连接在一起的钽电容进行容值、损耗、漏电流、ESR测试，剔除不合格钽电容； 电容整形机，用于将经所述条带状钽电容测试机测试合格的条带状钽电容的引线框切断，分割成单个钽电容，并将所述钽电容的引脚折弯整形； 外形筛选机，所述外形筛选机对经所述电容整形机整形得到的单个钽电容进行拍照识别，剔除外观有瑕疵的钽电容； 电容自动装盘机，所述自动装盘机包括流转盘，所述流转盘上排布有能够容纳所述钽电容的电容固定槽，所述钽电容在所述电容固定槽中能够露出自身的电极用于进行测试，经外形筛选机筛选得到的单个所述钽电容分别通过所述自动装盘机安装在所述流转盘的电容固定槽中；

前道老化夹具接触测试机，所述钽电容通过所述流转盘置于老化夹具中，通过所述老化夹具接触测试机对所述钽电容在老化夹具内的接触情况进行测试；

老化箱，用于对经所述老化夹具接触测试机检测合格的钽电容在流转盘中进行老化；

后道老化夹具接触测试机，所述流转盘与老化夹具一起从所述老化箱中取出置于所述后道老化夹具接触测试机上，用于对经老化的钽电容进行短路、开路、探针接触不良进行测试；

钽电容高低温浪涌机，经所述后道老化夹具接触测试机测试合格的钽电容通过所述流转盘安装在所述钽电容高低温浪涌机的浪涌夹具上，用于对所述钽电容进行高低温浪涌测试；

高低温4参数测试机；经所述钽电容高低温浪涌机测试合格的钽电容通过所述流转盘置于所述高低温4参数测试机中，用于对所述钽电容进行高温和低温4参数测试，包括高温和低温下的容值、损耗、漏电流、ESR测试；

常温4参数测试机，经所述高低温4参数测试机测试合格的钽电容通过所述流转盘置于所述常温4参数测试机中，用于对所述钽电容进行常温4参数，包括常温下的容值、损耗、漏电流、ESR测试。