[发明专利]微粒测量装置及其数据处理方法在审

专利信息
申请号: 201810439504.1 申请日: 2013-04-03
公开(公告)号: CN108593529A 公开(公告)日: 2018-09-28
发明(设计)人: 新田尚;今西慎悟;竹内太一 申请(专利权)人: 索尼公司
主分类号: G01N15/14 分类号: G01N15/14
代理公司: 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 代理人: 余刚;吴孟秋
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 微粒测量装置 数据处理 强度信息 检测 通过检测装置 光接收表面 检测装置 微粒产生 光发射 格状 流道
【说明书】:

本发明涉及微粒测量装置及其数据处理方法。一种用于微粒测量装置的数据处理方法,包括:通过将光发射到流过流道的微粒上来检测从所述微粒产生的光的强度信息,其中,所述光通过检测装置来检测,所述检测装置的光接收表面被以格状方式分成区域A、区域B、区域C和区域D的四个区域,以及基于所述区域A和与所述区域A不相邻的所述区域C中的检测值的差分Δ1(A‑C)来处理所述强度信息。

本申请是申请号为2013800285014,申请日为2013年4月3日,发明创造名称为“微粒测量装置中的数据校正方法和微粒测量装置”的分案申请。

技术领域

本技术涉及用于微粒测量装置的数据校正方法和微粒测量装置。更具体地,本技术涉及,例如用于微粒测量装置的数据校正方法,该方法用于校正由微粒在形成在流动池、微芯片等中的流道中的流动位置的变化所引起的测量误差。

背景技术

已知的微粒测量装置形成包括形成在流动池、微芯片等中的流道中的微粒的层流(也称为鞘流),将光发射在层流中的微粒上,并且检测从微粒产生的荧光和散射光。例如,流式细胞仪可以基于检测的荧光或者散射光的强度或者光谱测量和分析微粒的光学性能,诸如细胞和珠子。

在微粒测量装置中,形成层流使得微粒基本上在流道的中心流动,但是每个微粒在流道中的流动位置改变,并且因此,由这个变化所引起的测量误差成问题。为了减小进行测量花费的时间,在包括层流中的微粒的样品液体层流的流动速率被配置为大于鞘液层流的流动速率时,微粒在流道中的流动位置的变化和由这个变化所引起的测量误差尤其大。

在流道中的流动位置在微粒中改变时,微粒与用于微粒的光发射系统和从微粒产生的荧光和散射光的检测系统之间的光学而言的位置的关系在微粒中不同。因此,由光学位置的偏差所引起的测量误差出现在在每个微粒中检测的荧光和散射光的强度和光谱中。

专利文献1和专利文献2公开了用于抑制由微粒的流动位置的变化所引起的测量误差的技术。在专利文献1中描述的流动微粒分析装置中,通过四分部光电二极管、区域CCD等检测经由光学分隔器从前向散射光、侧向散射光或者反向散射光重新得到(retrieved)的检测光(散射光)。然后,从检测位置检测到激发光的中心和鞘流的中心之间的位置的偏差,并调节流动池的位置使得位置的这个偏差停在预定的范围内。专利文献2描述通过使用在从微粒产生的散射光中出现的偏振角变化和调节激发光的焦点位置或者流动池的位置检测关于微粒的位置信息的技术。

现有技术文献

专利文献

专利文献1:JP 9-166541A

专利文献2:JP 2011-149822A

发明内容

本发明要解决的问题

在从微粒产生的荧光作为光谱进行测量时,由于微粒的流动位置的变化导致的测量误差成问题。从微粒产生的荧光被使用分光器件,诸如棱镜和光栅镜分为光谱。然后,荧光的光谱通过具有以一维方式布置的PMT、光电二极管等的光接收器件阵列和诸如CCD和CMOS的二维光接收器件检测。在这时候,在微粒的流动位置改变时,入射到布置在光接收器件阵列或者二维光接收器件中的多个独立的检测流道之一上的荧光的波长范围可能在微粒中不同。

更具体地,从微粒k投影在检测流道n上的荧光的波长范围是λk至λk+1时,从流道中的流动位置不同于微粒k的流动位置的从微粒l投影的荧光的波长范围是λl至λl+1,并且(λk,λk+1)和(λl,λl+1)的值可能是不同的。因此,检测每个微粒的荧光光谱可能涉及由入射到检测流道n上的荧光的波长范围的偏差所引起的测量误差。

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