[发明专利]一种多通道时间间隔测量系统在审
| 申请号： | 201810441178.8 | 申请日： | 2018-05-10 |
| 公开（公告）号： | CN110471272A | 公开（公告）日： | 2019-11-19 |
| 发明（设计）人： | 刘园园 | 申请（专利权）人： | 刘园园 |
| 主分类号： | G04F10/00 | 分类号： | G04F10/00 |
| 代理公司： | 61222 西安利泽明知识产权代理有限公司 | 代理人： | 马海蓉<国际申请>=<国际公布>=<进入 |
| 地址： | 719103 陕西省*** | 国省代码： | 陕西;61 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 测试单元 输出端 时间间隔测量 单片机核心 多通道 测量 输入端 恒温晶振 技术效果 系统总线 大量程 测试 | ||
1.一种多通道时间间隔测量系统，包括单片机核心控制单元、接口BNC、恒温晶振、SPI串行接口及系统总线，其特征在于：还包括时间间隔测试单元；所述接口BNC与时间间隔测试单元的输入端相连，时间间隔测试单元的输出端通过SPI总线与单片机核心控制单元相连；所述时间间隔测试单元由FPGA模块与至少1个的TDC模块组成，所述FPGA模块的第二输出端与TDC模块的第二输入端相连，所述FPGA模块的第一输出端、TDC模块的第一输出端与单片机核心控制单元通过SPI总线相连，所述FPGA模块的第一输入端、TDC模块的第一输入端与接口BNC相连；所述恒温晶振与FPGA模块相连。
2.如权利要求1所述的一种多通道时间间隔测量系统，其特征在于：所述系统还包括高速电子切换开关、电源单元；所述接口BNC与时间间隔测试单元的输入端相连，时间间隔测试单元的输出端通过SPI总线与单片机核心控制单元相连；所述接口BNC与高速电子切换开关相连，所述告诉电子切换开关与单片机核心控制单元、电源单元、GND相连；所述时间间隔测试单元由FPGA模块与至少1个的TDC模块组成，所述FPGA模块的第二输出端与TDC模块的第二输入端相连，所述FPGA模块的第一输出端、TDC模块的第一输出端与单片机核心控制单元通过SPI总线相连，所述FPGA模块的第一输入端、TDC模块的第一输入端与接口BNC相连；所述恒温晶振与FPGA模块相连。
3.如权利要求1或2所述的一种多通道时间间隔测量系统，其特征在于：所述单片机核心控制单元由单片机、显示屏组成；所述单片机与显示屏、时间间隔测试单元、高速电子切换开关相连。
4.如权利要求3所述的一种多通道时间间隔测量系统，其特征在于：所述单片机为ARM。
5.如权利要求1-2、4任一所述的一种多通道时间间隔测量系统，其特征在于：所述时间间隔测试单元由FPGA模块与1个TDC模块组成。
6.如权利要求1-2、4任一所述的一种多通道时间间隔测量系统，其特征在于：所述时间间隔测试单元由FPGA模块与36个TDC模块组成，所述FPGA模块的第二输出端与各个TDC模块的第二输入端相连，所述FPGA模块的第一输出端、各个TDC模块的第一输出端与单片机核心控制单元通过SPI总线相连，所述FPGA模块的第一输入端、各个TDC模块的第一输入端与接口BNC相连。
7.如权利要求1-2、4任一所述的一种多通道时间间隔测量系统，其特征在于：所述时间间隔测试单元由FPGA模块与128个TDC模块组成，所述FPGA模块的第二输出端与各个TDC模块的第二输入端相连，所述FPGA模块的第一输出端、各个TDC模块的第一输出端与单片机核心控制单元通过SPI总线相连，所述FPGA模块的第一输入端、各个TDC模块的第一输入端与接口BNC相连。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于刘园园，未经刘园园许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201810441178.8/1.html，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：用于表日历的系统
- 下一篇：一种用于自动化闭环控制系统的跟踪锁定方法
