[发明专利]一种快速鉴定荧光粉质量的方法

说明书

本发明提供一种快速鉴定荧光粉质量的方法，快速鉴定荧光粉质量的方法包括：待测荧光粉配置成荧光胶体并设置于测温仪的感温端上，所述蓝光LED发光体与荧光胶体分离设置，所述凸透镜设置于蓝光LED发光体与荧光胶体之间，使得蓝光LED发光体所发出的蓝光通过凸透镜聚焦于待测荧光粉上；检测荧光胶体未被激发时的初始温度T1以及待测荧光粉在一定激发时间的稳定温度T2；T2与T1的差值即为该待测荧光粉的激发温度；对比不同荧光粉的激发温度，激发温度高则表示该荧光粉的光衰较为严重。

技术领域

本发明涉及LED封装领域，具体涉及一种能够快速鉴定荧光粉质量的方法及装置。

背景技术

荧光粉的质量与LED灯珠光参数的多少及使用寿命的长短息息相关，对于荧光胶内荧光粉的检测目前有多种方法，如将荧光胶置于高温高压环境中一段时间后，测试荧光粉的光衰情况；其中将荧光胶封装在灯珠内部进行长时间老化是目前现有方法中最为常规并广泛运用的手段。

但由于以上方法所需要的检验周期较长，即老化一般为1000小时后再对荧光粉进行初步判断，并且老化过程中，封装胶水、支架等的老化带来实验误差。再者，因周围环境因素的影响，温度越高，光衰越大，在常规实验中，不同的放置位置或放置时间段的环境温度均不同，且LED芯片产生的热量对荧光粉及周围环境温度影响最大，所以对环境的恒温控制较难，给研究人员带来较大的实验数据误差。为减少以上误差往往是多做几组整灯，甚至多次验证以达到实验目的。以上问题给实验人员带来数据不准确，实验周期长的缺点。

发明内容

为此，本发明根据荧光粉受激发自身产生温度大小与光衰程度的关系，即荧光粉受激发自身产生温度越大，光衰越严重。提供一种能够快速鉴定荧光粉质量的方法及装置，且检测结果准确度高。

为实现上述目的，本发明提供的一种快速鉴定荧光粉质量的方法，包括如下步骤：

A1，提供暗腔、蓝光LED发光体、凸透镜及测温仪，将蓝光LED发光体、凸透镜及测温仪的感温端设置于暗腔内，待测荧光粉配置成荧光胶体并设置于测温仪的感温端上，所述蓝光LED发光体与荧光胶体分离设置，所述凸透镜设置于蓝光LED发光体与荧光胶体之间，使得蓝光LED发光体所发出的蓝光通过凸透镜聚焦于待测荧光粉上；

A2，检测荧光胶体未被激发时的初始温度T1；

A3，控制蓝光LED发光体发光，蓝光LED发光体所发出的蓝光通过凸透镜聚焦于待测荧光粉上进行激发，测温仪检测待测荧光粉在一定激发时间的稳定温度T2；

A4，求得稳定温度T2与初始温度T1的差值△T，该差值△T即为该待测荧光粉的激发温度；

A5，取等量的不同荧光粉进行重复A1至A4步骤，取得等量的不同荧光粉的激发温度并进行比较，激发温度较高的荧光粉的光衰即较为严重。

进一步的，所述暗腔为椭球腔体，所述蓝光LED发光体和荧光胶体分别设置于该椭球腔体的二焦点位置；所述暗腔的内壁设有反光层。

进一步的，在步骤A1和步骤A2之间，还包括步骤A1-2：对暗腔进行抽真空处理。

再进一步的，在步骤A3和步骤A4之间，还包括步骤A3-4：对暗腔进行充气冷却至室温，重复步骤A1-2至步骤A3，取得多组初始温度T1和稳定温度T2；步骤A4的具体为：求得稳定温度T2的平均温度与初始温度T1的平均温度的差值△T，该差值△T即为该待测荧光粉的激发温度。

进一步的，还包括散热机构，所述散热机构将蓝光LED发光体产生的热量传导至暗腔外。