[发明专利]一种电子元器件寿命检测装置

权利要求书

1.一种电子元器件寿命检测装置，其特征在于，包括工作台(1)、检测模块、压电陶瓷驱动电源(8)、交流电源模块和计数模块，所述检测模块包括压电陶瓷驱动器(2)和并联于交流电源模块两端的两个相同的检测电路；

所述压电陶瓷驱动器(2)安装于工作台(1)上，所述压电陶瓷驱动器(2)与压电陶瓷驱动电源(8)电连接，所述压电陶瓷驱动电源(8)产生交变电场使得压电陶瓷驱动器(2)中的金属片(203)产生振动形变；

所述检测电路由电子元器件(3)和复位开关(9)串联，两个所述复位开关(9)分别位于金属片(203)的两侧，所述金属片(203)产生的振动形变能使位于金属片(203)产生振动形变一侧的复位开关(9)闭合；

所述计数模块用于计算两个检测电路的相邻两次断路间隔时间在设定值允许范围内的次数或者用于计算每个检测电路的通断次数，获得电子元器件(3)的寿命。

2.根据权利要求1所述的电子元器件寿命检测装置，其特征在于，用于计算两个检测电路的相邻两次断路间隔时间在设定值允许范围内的次数的所述计数模块包括计数器(18)和电流检测装置(17)，每个检测电路中均设有电流检测装置(17)，所述电流检测装置(17)串联在检测电路中，两个所述电流检测装置(17)均与计数器(18)电连接。

3.根据权利要求1所述的电子元器件寿命检测装置，其特征在于，用于计算每个检测电路的通断次数的所述计数模块包括光电式传感器(4)、控制模块(5)和显示器(6)，所述电子元器件(3)为LED灯，每个电子元器件(3)对应一个光电式传感器(4)，所述光电式传感器(4)安装于隔板(7)上，并正对电子元器件(3)，所述光电式传感器(4)与控制模块(5)电连接，所述控制模块(5)与显示器(6)电连接。

4.根据权利要求1～3中任一项所述的电子元器件寿命检测装置，其特征在于，所述压电陶瓷驱动器(2)包括支承座(201)、金属片(203)和对称设置在金属片(203)的两侧面上的压电陶瓷片(202)，所述压电陶瓷片(202)的长度小于所述金属片(203)的长度，所述压电陶瓷片(202)与所述金属片(203)紧密贴合并且靠近所述金属片(203)的一端设置，所述压电陶瓷片(202)和金属片(203)的一端固定于支承座(201)内，所述支承座(201)固定于所述工作台(1)上。

5.根据权利要求1～3中任一项所述的电子元器件寿命检测装置，其特征在于，所述复位开关(9)包括接触侧(901)、拨动侧(902)和弹簧(10)，所述弹簧(10)的一端固定设置，另一端与拨动侧(902)固定连接，使得所述拨动侧(902)和所述接触侧(901)不接触，接触侧(901)的引脚与水平面的夹角为θ，使金属片(203)在到达最大振幅之前，拨动侧(902)和接触侧(901)接触。

6.根据权利要求1～2中任一项所述的电子元器件寿命检测装置，其特征在于，所述检测模块的个数为多个，依次设置于工作台(1)上。

7.根据权利要求3中任一项所述的电子元器件寿命检测装置，其特征在于，所述检测模块的个数为多个，依次设置于工作台(1)上，所述隔板(7)设置在每两个检测模块之间，所述隔板(7)由不透光材料制成。

8.根据权利要求1～3所述的电子元器件寿命检测装置，其特征在于，所述交流电源模块包括交流电源和与所述交流电源电连接的稳压器(16)。