[发明专利]高输入阻抗电光传感器

说明书

提供了高输入阻抗电光传感器。本公开包括一种电光传感器。电光传感器包括从被测设备（DUT）接收测试信号的测试信号输入。偏置电路用于生成偏置信号。电光传感器还包括采用光学输入、光学输出和偏置输入的马赫‑曾德调制器（MZM）。MZM被配置成经由光学输入接收光学载波信号。MZM还在偏置输入上接收测试信号和偏置信号二者。在由偏置信号选择的模式中操作的同时，MZM将来自偏置输入的测试信号调制到光学载波上以生成光学信号。MZM还通过光学输出来输出光学信号。

相关申请的交叉引用

本申请要求享有2017年5月10日提交并且题为“High Input Impedance OpticalSensor With Split Path Buffer Into Mach-Zehnder Bias Input”的美国临时申请序列号62/504,327的权益，所述美国临时专利申请如同以其整体进行重现那样通过引用并入本文。

技术领域

本公开涉及用于测试电气信号的系统和方法，并且更特别地，涉及具有增加的阻抗以用于与示波器结合使用的电光电压探针。

背景技术

测试和测量系统被设计成接收信号、对信号进行采样和显示结果。例如，可以实现测试和测量系统以确定和显示在被测设备（DUT）处出现的信号的特性。在一些情况下，测试和测量系统可以远离DUT定位。例如，一些DUT信号可能因存在紧密接近于DUT的任何电气系统而被更改。在这样的情况下，测试和测量系统可以远离DUT定位以支持DUT的电气隔离，这导致增加的测量精度。这样的隔离可以通过采用光学通信以提供电气隔离屏障来实现。经隔离的光学组件呈现许多设计挑战。一个这样的挑战是能够以非常小的功率操作这些组件。这是因为采用独立的功率连接使得将测量系统从DUT适当地隔离的能力降级。利用低功率预算操作呈现在经隔离的测量系统中采用高阻抗、高带宽缓冲器/放大器方面的困难。对于具有该高阻抗的需要是为了降低测量系统在DUT上的信号加载。在测试和测量系统的隔离部分中增加信号的功率是不切实际的，因为这样的功率增加可能容易超过低功率设备中的可用功率预算。

本公开中的示例解决这些和其它问题。

附图说明

从参考附图的实施例的以下描述中，本公开的实施例的各方面、特征和优点将变得明显，其中：

图1是采用光学隔离的示例测试和测量系统的示意图。

图2是用于使用在光学隔离测试和测量系统中的具有增加的阻抗的示例电光传感器网络的示意图。

图3是被配置成在不采用射频（RF）输入的情况下通过偏置输入接收测试信号的示例马赫-曾德调制器（MZM）的示意图。

图4是被配置成通过偏置输入接收测试信号并且省略RF输入的示例MZM的示意图。

图5是图示分离路径缓冲器中的示例钳位电路的电气效应的曲线图。

图6是通过采用MZM偏置输入来调制光学信号而增加电光传感器阻抗的示例方法的流程图。

具体实施方式