[发明专利]零件检测的方法、装置、设备以及计算机可读存储介质有效

专利信息
申请号: 201810443681.7 申请日: 2018-05-10
公开(公告)号: CN108871185B 公开(公告)日: 2020-12-29
发明(设计)人: 陈国栋;张仁政;王正;王振华;孙立宁 申请(专利权)人: 苏州大学
主分类号: G01B11/00 分类号: G01B11/00
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 罗满
地址: 215104 江苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 零件 检测 方法 装置 设备 以及 计算机 可读 存储 介质
【权利要求书】:

1.一种零件检测的方法,其特征在于,包括:

采集待检测零件图像,查找所述待检测零件图像中的当前模板匹配区域;

根据所述当前模板匹配区域和预选的待检测零件的初始模板匹配区域,计算仿射变换矩阵;

利用所述仿射变换矩阵矫正所述待检测零件的图像后,依据所述初始模板匹配区域和初始矩形测量区域之间的对应关系,确定所述待检测零件的当前矩形测量矩形区域;

计算所述当前矩形测量区域的尺寸,根据所述尺寸判断所述待检测零件是否合格;

所述根据所述当前模板匹配区域和预选的待检测零件的初始模板匹配区域,计算仿射变换矩阵包括:

获取预选的待检测零件的初始模板匹配区域的模型轮廓,计算所述初始模板匹配区域的中心坐标;

利用所述中心坐标对齐所述初始模板匹配区域和所述当前模板匹配区域,从而建立所述初始模板匹配区域和所述当前模板匹配区域的刚性的仿射变换矩阵。

2.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述计算所述当前矩形测量区域的尺寸,根据所述尺寸判断所述待检测零件是否合格包括:

利用所述当前矩形测量区域的每个边界的行坐标、列坐标和振幅计算所述当前矩阵测量区域每个边界之间的宽度;

通过所述当前矩阵测量区域每个边界之间的宽度判断所述待检测零件是否合格。

3.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述采集待检测零件图像,查找所述待检测零件图像的当前模板匹配区域包括:

采集待检测零件图像,利用halcon对所述待检测零件图像进行预处理后,确定所述待检测零件图像中的当前模板匹配区域。

4.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述预选的待检测零件的初始模板匹配区域包括:所述预选的待检测零件表面的印刷符号。

5.一种零件检测的装置,其特征在于,包括:

采集模块,用于采集待检测零件图像,查找所述待检测零件图像中的当前模板匹配区域;

计算模块,用于根据所述当前模板匹配区域和预选的待检测零件的初始模板匹配区域,计算仿射变换矩阵;

矫正模块,用于利用所述仿射变换矩阵矫正所述待检测零件的图像后,依据所述初始模板匹配区域和初始矩形测量区域之间的对应关系,确定所述待检测零件的当前矩形测量矩形区域;

判断模块,用于计算所述当前矩形测量区域的尺寸,根据所述尺寸判断所述待检测零件是否合格;

所述计算模块具体用于:

获取预选的待检测零件的初始模板匹配区域的模型轮廓,计算所述初始模板匹配区域的中心坐标;

利用所述中心坐标对齐所述初始模板匹配区域和所述当前模板匹配区域,从而建立所述初始模板匹配区域和所述当前模板匹配区域的刚性的仿射变换矩阵。

6.如权利要求5所述的装置,其特征在于,所述判断模块具体用于:

利用所述当前矩形测量区域的每个边界的行坐标、列坐标和振幅计算所述当前矩阵测量区域每个边界之间的宽度;

通过所述当前矩阵测量区域每个边界之间的宽度判断所述待检测零件是否合。

7.一种零件检测的设备,其特征在于,包括:

存储器,用于存储计算机程序;

处理器,用于执行所述计算机程序时实现如权利要求1至4任一项所述一种零件检测的方法的步骤。

8.一种计算机可读存储介质,其特征在于,所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序,所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至4任一项所述一种零件检测的方法的步骤。

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