[发明专利]一种优化能量谱分辨率的设计方法有效
申请号: | 201810445041.X | 申请日: | 2018-05-10 |
公开(公告)号: | CN108663708B | 公开(公告)日: | 2020-06-09 |
发明(设计)人: | 林振华;姚坤良 | 申请(专利权)人: | 天津华放科技有限责任公司 |
主分类号: | G01T1/36 | 分类号: | G01T1/36 |
代理公司: | 北京沁优知识产权代理事务所(普通合伙) 11684 | 代理人: | 姚艳 |
地址: | 300000 天津市南开区宜宾道*** | 国省代码: | 天津;12 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 优化 能量 分辨率 设计 方法 | ||
1.一种优化能量谱分辨率的设计方法,其特征在于,包括以下步骤,
(1)闪烁晶体探测器仿真矩阵的建立:
S1:利用计算机建立仿真模型;
S2:使用不同能量的γ入射光线(8)进行能量谱的实际测量;
S3:对比实验结果与仿真结果,对仿真模型参数进行优化;
S4:利用参数优化后的仿真模型进行不同入射能量的γ入射光线(8)的能量谱仿真;
S5:根据不同入射能量的γ入射光线(8)建立闪烁晶体探测器在不同能量区间内的响应矩阵;
(2)能量谱退卷积解谱过程,目的在于去除不同入射能量的γ入射光线(8)的能量谱中非全能峰沉淀的干扰:
S1:读取闪烁晶体探测器的响应矩阵;
S2:读取实际测量能量谱;
S3:进入迭代for循环,i,j分别从实际测量能量谱和退卷积后原始入射能量谱最高道数开始并依次递减;
S4:读取闪烁晶体探测器的响应矩阵第i行能量响应向量VUNIT,读取实际测量能量谱中第i道数值(Oi)并除以第i行能量响应向量VUNIT中第j元素(Rij)以计算出原始入射能量谱中第j道数值,并存入所求退卷积后原始入射能量谱中;
S5:进入另一能量道数迭代for循环,j值从能量谱最低道数增加至最高道数,计算原始入射能量谱中第j道数值的能量在实际测量能量谱中不同能量道数中的贡献,实际测量能谱每一道数能量值减去原始入射能量谱中第j道数能量在每一能量道数中的贡献值,即可获得原始入射能量谱针对最高能量道数能量值退卷积能量谱结果;
S6:重新进入i,j递减循环,直至能量谱最低能量道数结束。
2.根据权利要求1所述的一种优化能量谱分辨率的设计方法,其特征在于,运用了该方法的闪烁晶体探测器,包括探测器本体,所述探测器本体包括闪烁晶体(1)和光电转换器件(2),所述闪烁晶体(1)包括顶面(9)、侧面(6)和底面(7),所述顶面(9)设有一层光导器件(4),所述光导器件(4)与光电转换器件(2)相连,所述侧面(6)外侧包裹光反射膜(5)。
3.根据权利要求2所述的一种优化能量谱分辨率的设计方法,其特征在于,所述闪烁晶体(1)为圆柱体或多边形柱体。
4.根据权利要求2所述的一种优化能量谱分辨率的设计方法,其特征在于,所述光导器件(4)与光电转换器件(2)之间涂覆一层光学脂(3)。
5.根据权利要求2所述的一种优化能量谱分辨率的设计方法,其特征在于,所述光导器件(4)为氧化锌。
6.根据权利要求2所述的一种优化能量谱分辨率的设计方法,其特征在于,所述光电转换器件(2)为光电倍增管(PMT),硅光电倍增管(SiPM)或光电二极管(Photo-diode)。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于天津华放科技有限责任公司,未经天津华放科技有限责任公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201810445041.X/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种多次双向S-K平滑处理系统及方法
- 下一篇:一种小断层增强方法