[发明专利]岩层内裂缝发育特征的定量表征方法及装置有效

专利信息
申请号: 201810445569.7 申请日: 2018-05-11
公开(公告)号: CN108427143B 公开(公告)日: 2019-10-11
发明(设计)人: 廖建波;李智勇;洪亮;姚泾利;黄军平 申请(专利权)人: 中国石油天然气股份有限公司
主分类号: G01V1/40 分类号: G01V1/40;G01V1/50
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司 11127 代理人: 党晓林;陈烨
地址: 100007 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 裂缝 岩层 定量表征 条数 岩性 发育 电成像测井图像 频率累积 测井解释 测井曲线 累积频率 特征解释 单层 统计
【权利要求书】:

1.一种岩层内裂缝发育特征的定量表征方法,其特征在于,包括:

针对特定岩石类型,基于测井曲线和电成像测井图像进行岩性测井解释,获得沿着深度方向上的岩性解释结果;基于所述岩性解释结果,将沿着深度方向上连续相同的岩性点组成单层岩性体,获得单一岩性体厚度;

根据所述电成像测井图像特征解释裂缝,并统计出每个所述单一岩性体中的裂缝条数;

基于所述单一岩性体厚度和单一岩性体中裂缝条数确定裂缝层密度;

基于所述单一岩性体中的裂缝条数生成裂缝条数累积频率与单一岩层深度相对应的裂缝频率累积曲线;

基于所述裂缝层密度和裂缝频率累积曲线中的至少一种对岩层内裂缝发育特征进行定量表征,所述裂缝发育特征包括裂缝在单一岩层内的分布位置,包括:基于所述裂缝频率累积曲线对岩层内裂缝分布位置进行定量表征,其具体为:获取所述裂缝频率累积曲线中的斜率,基于所述斜率确定所述裂缝在单一岩层中的分布位置,其中,所述裂缝频率累积曲线中具有至少一种斜率;所述裂缝分布在斜率较大的深度段。

2.如权利要求1所述的岩层内裂缝发育特征的定量表征方法,其特征在于,所述单一岩性体厚度不小于0.5米。

3.如权利要求2所述的岩层内裂缝发育特征的定量表征方法,其特征在于,在沿着深度方向上,当所述单一岩性体厚度小于0.5米时,将该厚度归到上一岩层。

4.如权利要求1所述的岩层内裂缝发育特征的定量表征方法,其特征在于,所述裂缝层密度的计算公式为:

上式中:Fd为裂缝层密度,单位为条/m;H为单一岩性体厚度,单位为m;∑Li为单一岩性体中的裂缝总条数,单位为条。

5.如权利要求1所述的岩层内裂缝发育特征的定量表征方法,其特征在于,所述获取所述裂缝频率累积曲线中的斜率,基于所述斜率确定所述裂缝在单一岩层中的分布位置包括:

当所述裂缝频率累积曲线自顶部至底部深度方向上具有同一种大于预定值的斜率时,则裂缝在层内分布均匀;

当所述裂缝频率累积曲线自顶部至底部深度方向上具有两种斜率,且靠近顶部对应的斜率大于靠近底部的斜率,则裂缝主要分布在顶部,底部较少;

当所述裂缝频率累积曲线自顶部至底部深度方向上具有三种斜率,且靠近中部对应的斜率小于靠近底部和顶部的斜率,则裂缝主要分布在岩层顶部和底部,中部相对较少。

6.如权利要求5所述的岩层内裂缝发育特征的定量表征方法,其特征在于,所述裂缝层密度和裂缝频率累积曲线与岩层内裂缝发育特征之间的关系包括:

第一类:裂缝层密度高且所述裂缝频率累积曲线具有同一种大于预定值的斜率,表明单一岩层内裂缝发育程度高且分布均匀;

第二类:裂缝层密度较高且所述裂缝频率累积曲线自顶部至底部深度方向上具有三种斜率,且靠近中部对应的斜率小于靠近底部和顶部的斜率,表明单一岩层内裂缝发育程度较高,裂缝主要分布在岩层顶底部、中部较少;

第三类:裂缝层密度较高且所述裂缝频率累积曲线自顶部至底部深度方向上具有两种斜率,且靠近顶部对应的斜率大于靠近底部的斜率,表明单一岩层内裂缝发育程度较高,裂缝主要分布在岩层顶部,底部较少;

第四类:裂缝层密度低且所述裂缝频率累积曲线具有同一种小于预定值的斜率,表明单一岩层内裂缝欠发育,岩层各部位有少量裂缝;

第五类:裂缝层密度低且所述裂缝频率累积曲线自顶部至底部深度方向上具有两种斜率,且靠近顶部对应的斜率大于靠近底部的斜率,表明单一岩层内裂缝欠发育,顶部发育有裂缝,且发育程度较高于第四类;

第六类:裂缝层密度低且所述裂缝频率累积曲线自顶部至底部深度方向上具有三种斜率,表明单一岩层内裂缝欠发育,岩层顶底部发育有裂缝,且发育程度较高于第五类,但比前三类差。

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