[发明专利]一种设备外壳温度的检测方法、装置及系统

说明书

本发明公开了一种设备外壳温度的检测方法、装置及系统，所述方法包括：控制红外成像仪采集被测设备外壳表面中预设的温度检测位置的温度数据；获取所述温度检测位置中的预设分析区域的温度数据；根据所述温度数据，在所述预设分析区域范围内生成N条温度曲线；N≥10；判断所述预设分析区域范围内所包含的闭合的温度曲线的条数是否超出阈值；若是，则判断所述被测设备外壳表面中的预设分析区域过热。本发明通过对采集到的温度数据分析处理，实现快速有效的判断被测设备的外壳表面是否存在过热。

技术领域

本发明属于温度检测领域，具体涉及一种设备外壳温度的检测方法、装置及系统。

背景技术

气体绝缘金属封闭开关设备(简称GIS)，以SF₆气体作为绝缘介质，具有开断能力强、故障率低、维护费用少、占地面积小等优点，在变电站中获得了广泛应用。但是当气体绝缘金属封闭开关设备内部的电接触部位如触头接触不良时，触头接触电阻变大，通过负载电流时将产生过热现象。触头和母线过热会引起绝缘老化甚至击穿，从而引发重大的事故和经济损失。因此需要检测GIS设备的温度异常现象，提前发现并消除热故障隐患。由于GIS内部电接触部位过热时对应位置的GIS外壳表面温度也会随之升温。在现有技术中，通常采用红外热成像技术进行GIS外壳测温，从而判断GIS内部导体电接触部位的过热程度。但现有技术通过红外热成像获得的红外检测图谱数据无法进行后期处理，也无法直观展现气体绝缘金属封闭开关设备内部电接触部位对应的外壳温度，导致无法快速有效的判断GIS内部导体电接触部位对应的外壳表面是否存在过热。

发明内容

本发明实施例提供一种设备外壳温度的检测方法、装置及系统，通过对采集到的温度数据分析处理，实现快速有效的判断被测设备的外壳表面是否存在过热。

在第一方面，本发明实施例提供一种设备外壳温度的检测方法，包括如下步骤：

控制红外成像仪采集被测设备外壳表面中预设的温度检测位置的温度数据；

获取所述温度检测位置中的预设分析区域的温度数据；

根据所述温度数据，在所述预设分析区域范围内生成N条温度曲线；N≥10；

判断所述预设分析区域范围内所包含的闭合的温度曲线的条数是否超出阈值；

若是，则判断所述被测设备外壳表面中的预设分析区域过热。

进一步地，所述根据所述温度数据，在所述预设分析区域中绘制N条温度曲线，具体包括：

根据所述温度数据，获得所述预设分析区域中最高温度的位置；

以所述最高温度的位置为中心，在所述预设分析区域内按照预设温度划分标准生成N条温度递减的等温线。

进一步地，所述阈值为N/2-1。

进一步地，所述预设分析区域根据所述被测设备内部电接触部位所在位置对应设置。

进一步地，所述N条温度曲线中每相邻的两条温度曲线之间的间隔距离不大于9毫米。

进一步地，所述预设划分标准为根据所述间隔距离和所述预设分析区域中温度最高值与最低值之间的差值设置。

优选地，所述预设分析区域的宽度为所述被测设备外壳直径的1/4。

在第二方面，本发明实施例还包括一种设备外壳温度的检测装置，所述装置包括：

温度数据采集模块，用于控制红外成像仪采集被测设备外壳表面中预设的温度检测位置的温度数据；

温度数据获取模块，用于获取所述温度检测位置中的预设分析区域的温度数据；

温度曲线生成模块，用于根据所述温度数据，在所述预设分析区域范围内生成N条温度曲线；N≥10；