[发明专利]透射检查设备和检查方法

说明书

本发明公开一种透射检查设备，该透射检查设备包括两个检查通道以及设置在两个检查通道之间的双扇束X光机。双扇束X光机被构造成产生相互独立的两个X射线扇形束，将一个X射线扇形束向一个检查通道内发射，并且将另一个X射线扇形束向另一个检查通道内发射，以便分别对两个检查通道内的被检目标进行透射扫描。两个X射线扇形束的张角中心线形成一夹角，使得两个检查通道内的透射扫描互不干扰。本发明还公开了利用上述透射检查设备对被检目标进行检查的方法。

技术领域

本发明总体上涉及透射检查设备和检查方法，更具体地涉及采用X射线透射成像技术的透射检查设备和检查方法。

背景技术

X射线透射成像技术的穿透性好，空间分辨率高，尤其对铜、铁等高原子序数物质反应灵敏，成像清晰，辩识效果好。因此，X射线透射成像技术在对诸如行李物品等的安全检查中得到了广泛的应用。

为了提高行李物品的检查效率和通过率，通常将两套或更多套同样结构的X射线透射检查设备拼装组合起来使用。图8是现有技术中双通道透射检查设备的总体结构和使用方法的示意图。该双通道透射检查设备由两套相同的X射线透射检查设备组合而成。接下来以其中的一套X射线透射检查设备为例进行说明。

每一套X射线透射检查设备包括：X光机1，其位于设备的顶部并具有前端准直器2；传送装置4，其设置在设备的通道6中，用以放置并传送行李3；以及探测器5，其设置在传送装置4的下方并与所述X光机1对置。X光机1发出的X射线通过前端准直器2被整形为狭窄的扇形束，穿透行李3后的一个截面信息被探测器5感测到。随着行李3随着传送装置4在通道6中移动，依次完成行李3的所有截面的透射扫描。最后，通过数采、电控和显示装置获得行李3(即，被检目标)的图像。由于将两套透射检查设备拼装排列使用，所以比单套透射检查设备的扫描效率提高了一倍。

然而，这样拼装而成的检查设备的占地空间和重量大、成本高、拆装费力并且使用起来不方便。特别地，这样拼装而成的检查设备内部的部件比较大且分散，增大了设备本身体积、辐射防护区域和设计加工难度等。

因此，有必要对现有技术中的行李物品透射检查设备进行改进，以便获得较小的占地空间、较轻的重量、较低的成本和较简单的设计方案，最终实现有效且快速地完成被检目标的全面查验。

发明内容

【技术目的】

为了解决上述技术问题以及后文中提及的其它技术问题而做出了本发明。

【技术方案】

根据本发明的一个方面，提供一种透射检查设备。所述透射检查设备包括两个检查通道以及设置在所述两个检查通道之间的双扇束X光机。所述双扇束X光机被构造成产生相互独立的两个X射线扇形束，将一个X射线扇形束向一个检查通道内发射，并且将另一个X射线扇形束向另一个检查通道内发射，以便分别对所述两个检查通道内的被检目标进行透射扫描。所述两个X射线扇形束的张角中心线形成一夹角，使得所述两个检查通道内的透射扫描互不干扰。

优选地，所述双扇束X光机设置在所述透射检查设备的顶部或底部，所述两个X射线扇形束的张角是相互独立地设定的，并且所述两个X射线扇形束的能量是相互独立地设定的。

优选地，每一个检查通道中设置有一个透射探测器。当所述双扇束X光机设置在所述透射检查设备的顶部时，所述透射探测器位于相应的检查通道的与所述双扇束X光机对置的侧部以及所述检查通道的底部，使得所述透射探测器的总体结构呈L形。当所述双扇束X光机设置在所述透射检查设备的底部时，所述透射探测器位于相应的检查通道的与所述双扇束X光机对置的侧部以及所述检查通道的顶部，使得所述透射探测器的总体结构呈L形。

优选地，所述两个检查通道位于同一个水平面上。

可选地，所述透射检查设备是开放式的。