[发明专利]一种显示基板及其检测方法、检测装置

说明书

本发明提供一种显示基板及其检测方法、检测装置，显示基板包括显示区域和位于显示区域周边的周边区域，显示区域设置有显示元件，显示基板还包括覆盖显示元件的薄膜封装层，显示基板还包括：设置在周边区域的检测结构，检测结构在未被覆盖时接收光线并反射第一光线，检测结构在至少一部分被薄膜封装层覆盖时接收光线并反射第二光线，第一光线的光学参数与第二光线的光学参数不同。根据本发明的显示基板，能够准确地检测检测结构是否被覆盖，检测效率高，检测结果可靠，保证薄膜封装结构的实际封装信赖性，减少因检测不准确造成的影响，通过本发明的检测方法和检测装置能够准确检测有机材料是否溢流，效率高。

技术领域

本发明涉及显示技术领域，尤其涉及一种显示基板及其检测方法、检测装置。

背景技术

目前，可以通过液晶显示器(LCD)和有机发光二极管(OLED)显示面板来实现可弯折显示，受益于自发光的特点，制备于柔性基底上的OLED显示器更容易实现更小弯曲半径的可弯折显示，因此，对包含柔性基板的OLED显示面板的制作已经引起了广泛的关注。受柔性显示器轻、薄与易于弯折的因素影响产生了许多新的可弯曲的终端设备的需求，柔性显示产品的弯曲可以是显示元件的弯曲，也可以是显示元件控制电路区的弯曲。

柔性显示最常见的封装方法为采用薄膜封装的方法，利用等离子体增强化学气相沉积法(PECVD)、溅射(SPUTTER)、原子层沉积(ALD)等方法实现无机层的制作，无机层负责了封装层中的水氧阻隔的职责，而无机层由于存在较大的应力，故而通常会在无机层间加入有机层或者类有机层实现应力释放以及平坦化的作用。

目前，有机层的制作多采用丝网印刷或者是喷墨打印的方法实现，受有机材料特性的影响，上述两种方法都无法避免有机材料在涂布到固化的过程中出现溢流的现象，在薄膜封装结构中，有机层的覆盖区域要小于无机层，即有机层被无机层包裹，如果出现溢流则会影响薄膜封装结构的实际封装信赖性，因此，在有机层制备后需要检测有机层是否溢流，由于有机层的透过率过高，一旦溢流目前没有很有效的确认检测的方法，检出率低，检测效率和准确度不高。

发明内容

有鉴于此，本发明提供一种显示基板及其检测方法、检测装置，用于解决薄膜封装结构中有机材料溢流不易检测，检测结果准确度不高，检出率和效率低的问题。

为解决上述技术问题，本发明采用以下技术方案：

根据本发明第一方面实施例的显示基板，包括显示区域和位于所述显示区域周边的周边区域，所述显示区域设置有显示元件，所述显示基板还包括覆盖所述显示元件的薄膜封装层，所述显示基板还包括：设置在所述周边区域的检测结构，所述检测结构在未被覆盖时接收光线并反射第一光线，所述检测结构在至少一部分被所述薄膜封装层覆盖时接收光线并反射第二光线，所述第一光线的光学参数与所述第二光线的光学参数不同。

进一步地，所述检测结构为多个且均匀间隔设置在所述显示元件的外周。

进一步地，所述检测结构为多个且沿所述显示元件的外周均匀间隔布置成两圈。

进一步地，所述显示元件形成为多边形，所述检测结构设在所述显示元件的拐角处。

进一步地，所述显示元件形成为多边形，所述检测结构设在所述显示元件的拐角处和至少一边的中部。

进一步地，所述检测结构形成为多组，每组所述检测结构成矩阵排布。

进一步地，相邻两个所述检测结构之间的间隔距离为10um-200um。

进一步地，所述检测结构的横截面形成为方形且长度或宽度为10um-200um，所述检测结构的高度为1um-10um。

进一步地，所述周边区域设有包围所述显示元件的挡墙，所述挡墙的外周设有防裂纹凹槽，所述检测结构设在所述挡墙与所述防裂纹凹槽之间。