[发明专利]一种降低电机低速大转矩区内电磁损耗的优化方法在审

专利信息
申请号: 201810450290.8 申请日: 2018-05-11
公开(公告)号: CN108631675A 公开(公告)日: 2018-10-09
发明(设计)人: 张承宁;冯艳丽 申请(专利权)人: 北京理工大学
主分类号: H02P21/02 分类号: H02P21/02;H02P21/30
代理公司: 北京市诚辉律师事务所 11430 代理人: 范盈
地址: 100081 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 电磁损耗 电机 大转矩 优化 电机电磁 峰值转矩 计算模型 磁饱和
【权利要求书】:

1.一种降低电机低速大转矩区内电磁损耗的优化方法,其特征在于:具体包括以下步骤:

步骤一、获取电机在不同电流下的dq轴磁链数据,根据dq轴磁链与电流关系建立考虑磁饱和效应的电机电压、磁链和电磁转矩方程;

步骤二、根据步骤所建立的所述方程建立非线性磁链下的电机SVPWM控制模型,得到电机在低速大转矩工况下的相电流;

步骤三、基于所述步骤二中得到的所述相电流,建立电机在SVPWM控制下考虑磁饱和效应的电磁损耗计算模型;

步骤四、利用所述步骤三中所建立的电磁损耗计算模型,对电机定子齿宽和导线并绕根数对所述低速大转矩工况下电磁损耗的影响进行分析,实施降低所述电磁损耗的优化策略。

2.如权利要求1所述的方法,其特征在于:所述步骤一中所获取的dq轴磁链数据基于冻结磁导率法对电机不同电流下dq轴磁链进行非线性仿真得到。

3.如权利要求1所述的方法,其特征在于:所述步骤一中所述的dq轴磁链与电流具有以下拟合关系:

其中,φd、φq分别为d、q轴磁链,KLd、Ksd为考虑磁饱和效应下d轴总磁链的曲线形状系数,Ksqd为q轴电流对d轴总磁链的交叉耦合影响系数,KLq、Ksq为考虑磁饱和效应下q轴总磁链的曲线形状系数,Ksdq为d轴电流对q轴总磁链的交叉耦合影响系数,φ0为不同q轴电流下d轴磁链的固定值,I0为固定d轴磁链所对应的d轴电流,id、iq分别为d、q轴电流。

4.如权利要求3所述的方法,其特征在于:所述步骤一中所建立的考虑磁饱和效应的电机电压、磁链和电磁转矩方程,具体包括:

电压方程:

磁链方程:

电磁转矩方程:

式中,ω为电角速度,vd、vq分别为d、q轴电压,Rs为相电阻,p为极对数。

5.如权利要求4所述的方法,其特征在于:所述步骤二中的电机SVPWM控制模型中,根据工况分别采用最大转矩电流比控制和弱磁控制,基于所述磁链方程可得到电机定子dq轴电流为:

根据dq轴实际电压和实际转速得出电机的工作状态,获得电机定子铁损分析所需的不同工作点下定子相电流。

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