[发明专利]超高精度低代价高阶补偿带隙基准电路在审
申请号: | 201810451456.8 | 申请日: | 2018-05-11 |
公开(公告)号: | CN108469866A | 公开(公告)日: | 2018-08-31 |
发明(设计)人: | 杨平;岑远军;李永凯;李大刚;齐旭;刘建康 | 申请(专利权)人: | 成都华微电子科技有限公司 |
主分类号: | G05F1/567 | 分类号: | G05F1/567 |
代理公司: | 成都惠迪专利事务所(普通合伙) 51215 | 代理人: | 刘勋 |
地址: | 610000 四川省成都市*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 宽长比 电阻 带隙基准电路 高阶补偿 晶体管组 低代价 串联 带隙基准电压 接地 控制端 输出端 输入端 源极 集成电路 | ||
1.超高精度低代价高阶补偿带隙基准电路,包括:
串联的第一PMOS管和第六NMOS管,第一PMOS管的栅极和漏极连接,第六NMOS管的源极通过第一电阻和第一晶体管接地;
串联的第二PMOS管和第七NMOS管,第七NMOS管的漏极和栅极连接,
第三PMOS管的漏极通过第二电阻接地,
第四PMOS管的漏极通过第三晶体管接地,第三晶体管的基极接第三MOS管的漏极;
第五PMOS管的漏极通过第四晶体管接地,第四晶体管的基极接第四MOS管的漏极;
第一PMOS管、第二PMOS管、第三PMOS管、第四PMOS管和第五PMOS管的栅极相接;
其特征在于,第七NMOS管的源极接晶体管组的输入端,晶体管组的输出端和控制端接地;所述晶体管组由8个PNP晶体管构成,其中每个晶体管的发射极连接到晶体管组的输入端,每个晶体管的集电极连接到晶体管组的输入端,集电极和基极接地;
第一PMOS管、第二PMOS管、第三PMOS管的宽长比相同,均为一个单位宽长比;
第六NMOS管和第七NMOS管的宽长比相同;
第四PMOS管和第五PMOS管的宽长比均为2.375倍单位宽长比,第一电阻R1的电阻值R1=35424Ω,第二电阻R2的电阻值R2=119260.8Ω。
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