[发明专利]一种TD-LTE基站电磁辐射相关性检测方法

说明书

本发明公开了一种TD‑LTE基站电磁辐射相关性检测方法，其步骤如下：通过建立TD‑LTE基站电磁辐射强度时间序列f(t)的噪声滤除公式可获得无噪序列再将两个不同时间段的基站电磁辐射强度时间序列f(x)，f(y)，其中x，y为时间，单位为小时，分别代入噪声滤除公式获得两个无噪序列再将两个无噪序列分别求平均获得和最后将获得的无噪序列以及无噪序列的平均值代入相关性表达式求得相关系数值p(x，y)。本发明分析了TD‑LTE基站电磁辐射相关性检测方法，考虑了电磁辐射噪声对不同时段基站电磁辐射相关性的影响，该方法能高效且精确的检测出TD‑LTE基站电磁辐射在不同时间段的相关系数值，具有一定的社会效益。

技术领域

本发明涉及一种TD-LTE基站电磁辐射相关性检测方法。

背景技术

基站电磁辐射序列随时间的变化在不同时间段中其变化规律具有一定的相关性，而基站电磁辐射相关性检测研究中不同时段电磁辐射序列的噪声往往会影响其相关性的体现，因此在对基站电磁辐射序列不同时段序列变化相关性检测中，可以通过滤除基站电磁辐射噪声后对TD-LTE基站电磁辐射序列变化的相关性进行检测，但目前已公开文献和专利，没有通过滤除基站电磁辐射噪声后对TD-LTE基站电磁辐射相关性检测的方法。

针对现有技术中存在的不足，本专利通过建立TD-LTE基站电磁辐射强度时间序列f(t)的噪声滤除公式可获得无噪序列再将两个不同时间段的基站电磁辐射强度时间序列f(x)，f(y)，其中x，y为时间，单位为小时，分别代入噪声滤除公式获得两个无噪序列再将两个无噪序列分别求平均获得和最后将获得的无噪序列以及无噪序列的平均值代入相关性表达式求得相关系数值p_(x,y)。通过实验表明，本专利提出的TD-LTE基站电磁辐射相关性检测方法能高效且精确的检测出TD-LTE基站电磁辐射在不同时间段的相关系数值。

发明内容

为了解决上述技术问题，本发明提供一种TD-LTE基站电磁辐射相关性检测方法。

本发明解决上述技术问题的技术方案包括以下步骤：

1)、建立TD-LTE基站电磁辐射强度时间序列f(t)的噪声滤除公式，获得无噪序列

其中：

d＝f(t),Ψ(t) (4)

c＝f(t),φ(t) (5)

在上式(1)中，为基站电磁辐射强度时间序列f(t)的无噪序列，f(t)为基站电磁辐射强度时间序列，单位为V/m，t为时间，单位为小时，d为变化系数，c为尺度系数，f(t),Ψ(t)为f(t)与Ψ(t)的函数内积，f(t),φ(t)为f(t)与φ(t)的函数内积；

2)、将两个不同时间段的基站电磁辐射强度时间序列f(x)，f(y)，其中x，y为时间，单位为小时，分别代入步骤1)，获得两个无噪序列再将两个无噪序列分别求平均获得和

其中，为TD-LTE基站电磁辐射强度时间序列f(x)的无噪序列，为TD-LTE基站电磁辐射强度时间序列f(x)无噪序列的平均值，为TD-LTE基站电磁辐射强度时间序列f(y)的无噪序列，n为时间序列f(x)和f(y)中电磁辐射强度值的个数，为TD-LTE基站电磁辐射强度时间序列f(y)无噪序列的平均值；

3)、将步骤2)中获得的代入相关性表达式求得相关系数值p_(x,y)：