[发明专利]一种回归测试方法、计算机可读存储介质及终端设备有效

专利信息
申请号: 201810457091.X 申请日: 2018-05-14
公开(公告)号: CN108694123B 公开(公告)日: 2023-07-21
发明(设计)人: 玉妲妮 申请(专利权)人: 中国平安人寿保险股份有限公司
主分类号: G06F11/36 分类号: G06F11/36
代理公司: 深圳中一专利商标事务所 44237 代理人: 官建红
地址: 518000 广东省深圳市福田*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 回归 测试 方法 计算机 可读 存储 介质 终端设备
【说明书】:

发明属于计算机技术领域,尤其涉及一种回归测试方法、计算机可读存储介质及终端设备。所述方法获取对软件进行回归测试的测试用例集合;获取在预设的统计时间段内各次对所述软件进行回归测试所得到的测试结果记录;根据所述测试结果记录分别确定所述测试用例集合中各个测试用例的测试优先级;从所述测试用例集合中选取测试优先级最高的TS个测试用例作为优选测试用例;使用所述优选测试用例对所述软件进行回归测试。本发明引入了测试优先级来对各个测试用例的重要性进行评估,在回归测试时间是有限的情况下,只选取测试优先级最高的部分测试用例对所述软件进行回归测试,确保在有限的时间内发现尽可能多的软件缺陷。

技术领域

本发明属于计算机技术领域,尤其涉及一种回归测试方法、计算机可读存储介质及终端设备。

背景技术

当软件修改或升级后,为了保证改进后的软件不引入新的软件缺陷就必须进行回归测试,传统的回归测试是软件开发和维护中的重要活动过程。回归测试过程通常是一个集成测试过程,涉及到大量的测试用例的执行,因此,该过程非常耗时,而一般的回归测试时间是有限的,通常难以对所有的测试用例进行完整的测试,导致难以发现新的软件缺陷。

发明内容

有鉴于此,本发明实施例提供了一种回归测试方法、计算机可读存储介质及终端设备,以解决现有技术难以在有限的回归测试时间内发现新的软件缺陷的问题。

本发明实施例的第一方面提供了一种回归测试方法,可以包括:

获取对软件进行回归测试的测试用例集合;

获取在预设的统计时间段内各次对所述软件进行回归测试所得到的测试结果记录;

根据所述测试结果记录分别确定所述测试用例集合中各个测试用例的测试优先级;

从所述测试用例集合中选取测试优先级最高的TS个测试用例作为优选测试用例,TS为大于0的整数;

使用所述优选测试用例对所述软件进行回归测试。

本发明实施例的第二方面提供了一种计算机可读存储介质,所述计算机可读存储介质存储有计算机可读指令,所述计算机可读指令被处理器执行时实现如下步骤:

获取对软件进行回归测试的测试用例集合;

获取在预设的统计时间段内各次对所述软件进行回归测试所得到的测试结果记录;

根据所述测试结果记录分别确定所述测试用例集合中各个测试用例的测试优先级;

从所述测试用例集合中选取测试优先级最高的TS个测试用例作为优选测试用例,TS为大于0的整数;

使用所述优选测试用例对所述软件进行回归测试。

本发明实施例的第三方面提供了一种回归测试终端设备,包括存储器、处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机可读指令,所述处理器执行所述计算机可读指令时实现如下步骤:

获取对软件进行回归测试的测试用例集合;

获取在预设的统计时间段内各次对所述软件进行回归测试所得到的测试结果记录;

根据所述测试结果记录分别确定所述测试用例集合中各个测试用例的测试优先级;

从所述测试用例集合中选取测试优先级最高的TS个测试用例作为优选测试用例,TS为大于0的整数;

使用所述优选测试用例对所述软件进行回归测试。

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