[发明专利]高压元件及其制造方法有效
申请号: | 201810460667.8 | 申请日: | 2018-05-15 |
公开(公告)号: | CN110491941B | 公开(公告)日: | 2023-03-24 |
发明(设计)人: | 黄宗义 | 申请(专利权)人: | 立锜科技股份有限公司 |
主分类号: | H01L29/78 | 分类号: | H01L29/78;H01L29/423;H01L21/336 |
代理公司: | 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 | 代理人: | 李兰;孙志湧 |
地址: | 中国台湾新*** | 国省代码: | 台湾;71 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 高压 元件 及其 制造 方法 | ||
1.一种高压元件,包含:
一半导体层,形成于一基板上,该半导体层于一垂直方向上,具有相对的一上表面与一下表面;
一绝缘结构,形成于该上表面上并连接于该上表面,用以定义一操作区;
一漂移氧化区,形成于该上表面上并连接于该上表面,且位于该操作区中的一漂移区上并连接于该漂移区;
一阱区,具有一第一导电型,形成于该半导体层的该操作区中,且于该垂直方向上,该阱区位于上表面下并连接于该上表面;
一本体区,具有一第二导电型,形成于该操作区的该阱区中,且于该垂直方向上,该本体区位于该上表面下并连接于该上表面;
一栅极,形成于该半导体层的该上表面上的该操作区中,由俯视图观察,该栅极大致为沿着一宽度方向上而延伸的长方形,且于该垂直方向上,部分该本体区位于该栅极正下方并连接于该栅极,以提供该高压元件在一导通操作中的一反转电流通道;
至少一子栅极,形成于该漂移氧化区上的该操作区中,由俯视图观察,该子栅极大致为沿着该宽度方向而延伸的长方形,且该子栅极与该栅极平行排列,且于该垂直方向上,该子栅极位于该漂移氧化区上且连接该漂移氧化区;
一源极与一漏极,具有该第一导电型,于该垂直方向上,该源极与该漏极形成于该上表面下并连接于该上表面的该操作区中,且该源极与该漏极分别位于该栅极的外部下方的该本体区中与远离该本体区侧的该阱区中,且于一通道方向上,该漂移区位于该漏极与该本体区之间,靠近该上表面的该阱区中,用以作为该高压元件在该导通操作中的一漂移电流通道,且由俯视图观察,该子栅极介于该栅极与该漏极之间,且于该垂直方向上,该源极与该漏极位于该上表面下并连接于该上表面;以及
一导电连接结构,用以由该栅极与该至少一子栅极上方,电连接该栅极与该至少一子栅极,且该导电连接结构为导体;
其中,该子栅极与该栅极由该导电连接结构连接,而不彼此连接;
其中,该子栅极包括一子栅极导电层以及一子栅极间隔层;
其中,该漂移氧化区是一完整连接的结构,并不分割为不同区块。
2.如权利要求1所述的高压元件,其中,该漂移氧化区包括一区域氧化结构、一浅沟槽绝缘结构、一化学气相沉积氧化区、或一栅极氧化层。
3.一种高压元件制造方法,包含:
形成一半导体层于一基板上,该半导体层于一垂直方向上,具有相对的一上表面与一下表面;
形成一绝缘结构于该上表面上并连接于该上表面,用以定义一操作区;
形成一漂移氧化区于该上表面上并连接于该上表面,且位于该操作区中的一漂移区上并连接于该漂移区;
形成一阱区于该半导体层的该操作区中,且于该垂直方向上,该阱区位于上表面下方并连接于该上表面,该阱区具有一第一导电型;
形成一本体区于该操作区的该阱区中,且于该垂直方向上,该本体区位于上表面下方并连接于该上表面,该本体区具有一第二导电型;
形成一栅极于该半导体层的该上表面上的该操作区中,由俯视图观察,该栅极大致为沿着一宽度方向上而延伸的长方形,且于该垂直方向上,部分该本体区位于该栅极正下方并连接于该栅极,以提供该高压元件在一导通操作中的一反转电流通道;
形成至少一子栅极于该漂移氧化区上的该操作区中,由俯视图观察,该子栅极大致为沿着该宽度方向而延伸的长方形,且该子栅极与该栅极平行排列,且于该垂直方向上,该子栅极位于该漂移氧化区上且连接该漂移氧化区;
于该垂直方向上,形成一源极与一漏极于该上表面下并连接于该上表面的该操作区中,该源极与该漏极具有该第一导电型,且分别位于该栅极的外部下方的该本体区中与远离该本体区侧的该阱区中,且于一通道方向上,且该漂移区位于该漏极与该本体区间,靠近该上表面的该阱区中,用以作为该高压元件在该导通操作中的一漂移电流通道,且由俯视图观察,该子栅极介于该栅极与该漏极之间,且于该垂直方向上,该源极与该漏极位于该上表面下并连接于该上表面;以及
形成一导电连接结构,用以由该栅极与该至少一子栅极上方,电连接该栅极与该至少一子栅极,且该导电连接结构为导体;
其中,该子栅极与该栅极由该导电连接结构连接,而不彼此连接;
其中,该子栅极包括一子栅极导电层以及一子栅极间隔层;
其中,该漂移氧化区是一完整连接的结构,并不分割为不同区块。
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