[发明专利]一种薄膜热收缩率的自动测量方法

权利要求书

1.一种薄膜热收缩率的自动测量方法，其特征在于，包括以下步骤：

(1)将薄膜样品采用基于负压吸附法的薄膜固定夹具固定，利用工业相机采集光源系统照明下的薄膜样品图像；

(2)利用图像处理分析系统对获取的薄膜样品图像进行预处理，去除薄膜图像中的干扰和噪声；

(3)通过图像分析系统识别薄膜样品图像边界，测量边界长度并进行数据优化；

(4)按照步骤(1)-(3)，分别测量烘烤前和烘烤后的薄膜样品边界长度；

(5)根据热收缩率计算公式，分别计算出薄膜纵向和横向两个方向的热收缩率；

所述基于负压法的薄膜固定夹具包括薄膜吸盘和负压发生器；负压发生器产生负压，通过密闭管道将负压传到薄膜吸盘上，从而实现薄膜的吸附；

薄膜固定平台上带有多个小孔，薄膜固定平台下方的负压发生器产生负压，通过密闭管道将负压传到薄膜吸盘上，从而实现薄膜固定平台具有吸附能力，且固定平台上孔直径均为小于1mm，

所述图像预处理过程如下：

(11)首先去除薄膜样品图像中的干扰和噪声；

(12)对(11)中处理后的薄膜样品图像色差进行差异增强处理，从而增加薄膜样品图象与薄膜固定平台的区分度；

(13)利用薄膜样品图像和薄膜固定平台图像色差将薄膜边界识别出来，在此过程中充分利用薄膜边界的连续性和薄膜边界相对平整性的特点，以便更准确的识别出薄膜边界；

(14)通过薄膜边界将除薄膜以外的图像剔除；

所述图像分析系统分析过程如下：

(21)对薄膜样品图像及其边界进行识别和分析，确定薄膜样品图像的横向和纵向，避免因为放置倾斜而产生的误差，然后将薄膜样品图像按横向和纵向调整到XY坐标上，使得横向与X轴一致，纵向与Y轴一致，方便进行长度划线测量；

(22)对薄膜样品图像按纵向和横向划出N组边界距离的长度线；

(23)测量所述N组长度后进行数据优化并求平均值，得出最终尺寸值；

所述光源系统包括LED发光源、光源固定座和匀光板；光源固定座将LED发光源固定在图像采集装置与薄膜平台之间，LED发光源产生照明光，为采集空间提供适合的亮度，匀光板是将光源的光更均匀的分布在采集空间中；

所述的热收缩率计算公式为T＝(L1－L2)/L1×100％，其中L1为烘烤前薄膜样品边界长度，L2为烘烤后的薄膜样品边界长度。