[发明专利]一种非接触式头颅平均介电常数测量方法

权利要求书

1.一种非接触式头颅平均介电常数测量方法，其特征在于,包括下列步骤：

1)将被测头颅穿过激励线圈，并放置在激励线圈和接收线圈之间，激励线圈和接收线圈同轴并且平行放置，头颅顶部距离接收线圈形成的圈面在1-10mm之间；

2)激励线圈通入交流电产生激励磁场，激励磁场通过被测头颅，被测头颅产生感应磁场，接收线圈接收总磁场，再测量接收线圈输出电压信号U_o以及激励线圈激励电压信号U_i；使用傅里叶变换，求出其中V为计算的复数值，R为实部，I为虚部；

3)将头颅撤去，按照步骤1)和步骤2)的方法测量两线圈中间为空时接收线圈信号相对于激励线圈信号的实部和虚部V₀＝R₀+iI₀，其中V₀为计算的复数值，R₀为实部，I₀为虚部；

4)根据公式

计算V相对于V₀的实部R_实；

5)再制作一个与被测头颅大小形状一致的头模型，内部装满血液，然后按照步骤1)至步骤4)测量计算得到实部R_模；

6)查血液在各个频率的介电常数频谱，得到血液在该交流信号的频率下的介电常数ε_blood，从而被测头颅的平均介电常数ε＝ε_blood*(R_实/R_模)。

2.如权利要求1所述的一种非接触式头颅平均介电常数测量方法，其特征在于，激励线圈使用的交流电频率位于500KHz-1MHz之间。

3.如权利要求1所述的一种非接触式头颅平均介电常数测量方法，其特征在于，所述激励线圈设置在人被测头颅两眼连线位置。