[发明专利]电子设备校准方法、装置、电子设备和存储介质

说明书

本申请提出一种电子设备校准方法、装置、电子设备和存储介质，其中，方法包括：根据待校准电子设备的属性，获取待校准电子设备对应的参考信道的初始供电电压表，根据初始供电电压表对待校准电子设备的参考信道进行校准测试，确定待校准电子设备的参考信道对应的第一供电电压表，再根据参考信道的第一供电电压表对待校对电子设备的各非参考信道分别进行校准测试，确定待校准电子设备的各非参考信道分别对应的第二供电电压表。由此可以得到每个待校准电子设备信道的工作参数，保证了电子设备工作在任何信道时，相邻频道泄漏比既能满足要求，射频功率放大器功耗也能达到较佳，同时也提高了相同属性电子设备性能的一致性。

技术领域

本申请涉及通信技术领域，尤其涉及一种电子设备校准方法、装置、电子设备和存储介质。

背景技术

射频功率放大器是各种无线发射机的重要组成部分。射频功率放大器一般具有多个信道，通常选择一个信道作为参考信道。当电子设备的射频功率放大器工作在其他非参考信道时，采用参考信道的工作参数，如参考供电电压、参考射频增益指数等进行工作。而且，同一型号的所有电子设备通常采用样机的一套工作参数。

在实际使用中，由于射频通路通常会产生频率响应，如果同一电子设备的所有信道均采用参考信道的参数，容易出现部分信道的相邻频道泄漏比(Adjacent ChannelLeakage Ratio，简称ACLR)不满足要求，或者射频功率放大器的供电电压未达到最小，而导致能耗大的问题。

而且，由于同一型号的电子设备所用元器件性能也会存在一定差异，同一型号的所有电子设备均采用样机的一套工作参数，会出现部分电子设备的信道的ACLR不满足要求或者功耗较大，从而导致同一型号的电子设备性能不一致的问题。

发明内容

本申请旨在至少在一定程度上解决相关技术中的技术问题之一。

本申请提出一种电子设备校准方法，通过根据待校准电子设备对应的参考信道的初始供电电压表，对参考信道进行校准测试，根据校准后的参考信道的第一供电电压表，对各非参考信道进行校准测试。从而通过根据待校准电子设备的属性，对每个待校准电子设备的所有信道都进行校准，得到每个待校准电子设备信道的工作参数，从而保证了电子设备工作在任何信道时，相邻频道泄漏比既能满足要求，射频功率放大器功耗也达到较佳，同时也提高了相同属性的电子设备性能的一致性。

本申请提出一种电子设备校准装置。

本申请提出一种电子设备。

本申请提出一种非临时性计算机可读存储介质。

本申请一方面实施例提出了一种电子设备校准方法，包括：

根据待校准电子设备的属性，获取所述待校准电子设备对应的参考信道的初始供电电压表，其中，所述初始供电电压表包括各初始供电电压；

根据所述初始供电电压表，对所述电子设备的参考信道进行校准测试，确定所述待校准电子设备的参考信道对应的第一供电电压表；

根据所述第一供电电压表，对所述待校准电子设备的各非参考信道分别进行校准测试，确定所述待校准电子设备的各非参考信道分别对应的第二供电电压表。