[发明专利]一种产品可靠性分析的方法及系统

权利要求书

1.一种产品可靠性分析的方法，其特征在于，所述方法包括：

获取产品的与性能参数相关的标识参数的测量值；所述标识参数的测量为非破坏性测量；

根据所述标识参数的测量值确定所述产品的可靠性分析模型的系数μ_y、σ_y、μ_Yk、σ_Yk；所述可靠性分析模型包括寿命概率分布模型和剩余寿命预测模型；其中，μ_y、σ_y是产品性能参数退化过程的参数，所述性能参数退化过程为一元维纳过程，μ_y是漂移参数，σ_y是扩散参数；μ_Yk、σ_Yk为t_k时刻产品性能参数概率分布的分布参数，所述产品性能参数概率分布服从正态分布，μ_Yk为所述正态分布的均值，σ_Yk为所述正态分布的标准差；

根据所述系数确定所述寿命概率分布模型，对所述产品的寿命分布进行分析，所述寿命概率分布模型为其中l为所述产品的失效阈值；

根据所述系数确定所述剩余寿命预测模型，对所述产品的剩余寿命进行预测，所述剩余寿命预测模型为

其中y_k为所述产品的性能参数。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述标识参数的测量值确定所述产品的可靠性分析模型的系数μ_y、σ_y、μ_Yk、σ_yk，之前还包括：

对所述产品所属类别的其他多个同类产品的性能参数进行破坏性测量，得到多个性能参数的测量值，其中第i个同类产品的性能参数的测量值为Y(t_im)；

对所述多个同类产品的与性能参数相关的标识参数进行非破坏性测量，得到多组与所述性能参数相关的标识参数的测量值，其中所述第i个同类产品的标识参数的测量值集合为X(t)＝[X(t_i1),X(t_i2),…,X(t_ij),…,X(t_im)]，j＝1,2,…,m；X(t_ij)为第i个同类产品t_ij时刻的标识参数的测量值。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据所述标识参数的测量值确定所述产品的可靠性分析模型的系数μ_y、σ_y、μ_Yk、σ_yk，具体包括：

确定第i个同类产品的测量数据的联合概率分布模型，所述联合概率分布模型为B_i～N(μ_iB,Σ_iB)，其中

Σ_iB12＝Σ′_B21；

根据标识参数的测量值数据采用极大似然方法确定系数μ_x和σ_x的数值；

根据标识参数和性能参数的测量值数据、系数μ_x和σ_x的数值，采用极大似然方法确定系数μ_y、σ_y、μ_Yk、σ_yk的数值。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述系数确定所述寿命概率分布模型，对所述产品的寿命分布进行分析，之后还包括：

根据所述系数确定寿命概率密度分布模型，对所述产品的寿命分布进行分析，所述寿命概率密度分布模型为