[发明专利]样品定量单元和具有它的微流控芯片有效
申请号: | 201810469303.6 | 申请日: | 2018-05-16 |
公开(公告)号: | CN108663531B | 公开(公告)日: | 2020-11-06 |
发明(设计)人: | 徐友春 | 申请(专利权)人: | 清华大学 |
主分类号: | G01N35/00 | 分类号: | G01N35/00;G01N35/10;B01L3/00 |
代理公司: | 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 | 代理人: | 黄德海 |
地址: | 10008*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 样品 定量 单元 具有 微流控 芯片 | ||
1.一种微流控芯片的样品定量单元,其特征在于,包括:
进样池,所述进样池与所述微流控芯片的进样口相连通;
定量池,所述定量池包含相连通的定量区和废液区,其中,所述定量区包括依次连通的缓冲区、定量子区和沉淀区,所述缓冲区通过第一毛细连接管与所述进样池相连通,所述定量子区的顶部与所述废液区相连通,所述废液区的底端连接有废液池,样品由所述进样池经所述缓冲区进入所述定量子区和所述沉淀区内;
样品处理池,所述样品处理池通过虹吸管与所述定量子区相连;
其中,所述进样池、所述定量池和所述样品处理池与大气连通,
所述定量子区与所述沉淀区通过第一收缩通道相连,所述第一收缩通道上形成有第一定量出口,所述第一定量出口与所述虹吸管相连通,所述缓冲区和所述沉淀区的最大深度均大于所述定量子区的最大深度,所述缓冲区与所述定量子区通过第二收缩通道相连。
2.根据权利要求1所述的微流控芯片的样品定量单元,其特征在于,所述第一收缩通道与所述定量子区和所述沉淀区的连接处形成有倒角,所述第二收缩通道与所述定量子区和所述缓冲区的连接处形成有倒角。
3.根据权利要求1或2任一项所述的微流控芯片的样品定量单元,其特征在于,所述第一毛细连接管上设置有加样阻止坑,所述加样阻止坑的横截面积大于所述第一毛细连接管的横截面积。
4.根据权利要求3所述的微流控芯片的样品定量单元,其特征在于,所述进样池的底端形成有进样缓冲池,所述缓冲池的上部与大气连通,所述进样缓冲池的横截面积大于所述进样池的横截面积。
5.根据权利要求4所述的微流控芯片的样品定量单元,其特征在于,所述废液池通过第三收缩通道与所述废液区相连。
6.根据权利要求5所述的微流控芯片的样品定量单元,其特征在于,所述沉淀区的顶部通过第二毛细连接管与所述废液区相连通,以使多余的所述样品由所述第二毛细连接管进入所述废液区,所述第二毛细连接管与所述废液区的连接处不高于所述第二收缩通道的最高点和不低于所述第二收缩通道的最低点。
7.一种微流控芯片,其特征在于,所述微流控芯片具有权利要求1-6任一项所述的样品定量单元。
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