[发明专利]一种基于PEM的高速全偏振光谱测量装置及方法在审
| 申请号： | 201810469611.9 | 申请日： | 2018-05-16 |
| 公开（公告）号： | CN108593109A | 公开（公告）日： | 2018-09-28 |
| 发明（设计）人： | 张瑞;景宁;王志斌;李克武;解琨阳;陈媛媛 | 申请（专利权）人： | 中北大学 |
| 主分类号： | G01J3/447 | 分类号： | G01J3/447;G01J3/02 |
| 代理公司： | 北京志霖恒远知识产权代理事务所(普通合伙) 11435 | 代理人： | 申绍中 |
| 地址： | 030051*** | 国省代码： | 山西;14 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 干涉信号 偏振光谱 测量 测量装置 超高速 调制光 程差 光谱 调制 相位延迟器 调制频率 高速测量 高速调制 光谱测量 强度调制 全偏振 元素谱 测光 | ||
1.一种基于PEM的高速全偏振光谱测量装置，其特征在于：该装置包括第一相位延迟器(1)、第二相位延迟器(2)、偏振器(3)、弹光调制器PEM(4)、检偏器(8)和探测器(9)组成，入射光依次通过第一相位延迟器(1)、第二相位延迟器(2)、偏振器(3)、弹光调制器PEM(4)和检偏器(8)，最终被探测器(9)探测；所述弹光调制器PEM(4)包括第一压电驱动器(5)、弹光调制晶体(6)和第二压电驱动器(7)。
2.根据权利要求1所述的一种基于PEM的高速全偏振光谱测量装置，其特征在于：所述第一相位延迟器(1)与第二相位延迟器(2)均为双折射晶体材料加工而成，所述探测器(9)为高速光电探测器。
3.根据权利要求1所述的一种基于PEM的高速全偏振光谱测量装置，其特征在于：第一相位延迟器(1)、第二相位延迟器(2)、偏振器(3)、弹光调制器PEM(4)和检偏器(8)与参考方向夹角分别为45°、0°、45°、0°、-45°，偏振器(3)的偏振方向与检偏器(8)的偏振方向相互垂直。
4.根据权利要求1所述的一种基于PEM的高速全偏振光谱测量装置，其特征在于：所述光谱测量装置采样率应不低于4πfL0/λmin，其中f为弹光调制器PEM(4)驱动频率，L0为弹光调制器PEM(4)最大光程差，λmin为入射光谱波段中的最小波长。
5.一种基于PEM的高速全偏振光谱测量方法，其特征在于，所述测量方法为：被测光谱经第一相位延迟器(1)和第二相位延迟器(2)强度调制，进入偏振器(3)变成线偏振光，通过弹光调制器PEM(4)调制获得干涉信号，经检偏器(8)出射光强被探测器(9)接收，高速测量斯托克斯参量I、Q、U、V四元素光谱。
6.根据权利要求5所述的一种基于PEM的高速全偏振光谱测量方法，其特征在于：通过调整弹光调制器PEM(4)的驱动调制频率实现超高速的干涉信号调制。
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