[发明专利]芯片、显示面板及显示装置在审

专利信息
申请号: 201810470673.1 申请日: 2018-05-17
公开(公告)号: CN108666302A 公开(公告)日: 2018-10-16
发明(设计)人: 方珊 申请(专利权)人: 武汉华星光电半导体显示技术有限公司
主分类号: H01L23/552 分类号: H01L23/552;H01L27/32
代理公司: 深圳市铭粤知识产权代理有限公司 44304 代理人: 孙伟峰
地址: 430070 湖北省武汉市东湖新技术*** 国省代码: 湖北;42
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摘要:
搜索关键词: 连接表面 吸光层 驱动芯片 液晶面板 驱动线路 标记部 光线吸收 绝缘 液晶显示装置 显示面板 显示装置 反射率 出货 反射 覆盖 芯片 发射 检测
【说明书】:

发明公开了一种用于液晶面板的驱动芯片,所述驱动芯片包括与液晶面板连接的连接表面,所述连接表面上设置有驱动线路部及标记部,所述驱动芯片还包括绝缘的吸光层,所述吸光层设置于所述连接表面上,且所述吸光层覆盖所述连接表面上的除所述驱动线路部、所述标记部外的区域,所述吸光层将发射于其上的光线吸收。本发明还公开了一种包含上述驱动芯片的液晶面板。本发明还公开了一种包含上述液晶面板的液晶显示装置。本发明通过在驱动芯片的连接表面设置绝缘的吸光层,覆盖连接表面上的除驱动线路部、标记部外的区域,吸光层将反射于其上的光线吸收,从而降低连接表面对AOI光源的反射率,提高AOI检测设备的检测效果,降低出货品质风险的目的。

技术领域

本发明属于显示技术领域,尤其涉及一种芯片、显示面板及显示装置。

背景技术

随着显示技术的不断进步,AMOLED(Active-matrix organic light emittingdiod,有机发光二极管)显示屏幕逐渐成为主流。而随着解析度增加到WQHD(2560X1440的高清屏幕)甚至UHD(Ultra Hight Definition Television,超高清电视),驱动芯片的绑定焊盘的间距设计得越来越小,甚至达到微米级别。制程上对绑定制程的要求越来越高。

与此同时,也对绑定制程中的AOI(Autonmatic Optic Inspection,自动光学检测)检测设备的要求越来越高。AOI检测设备需检测出导电粒子个数、shift(偏位)、异物等。其中,AOI检测设备对驱动芯片的绑定表面的反光率要求越来越严格。由于驱动芯片的绑定表面反光大,容易干扰到AOI检测设备的检测效果,从而导致误判率加大。最终导致才出货品质风险加大。

发明内容

为解决上述现有技术存在的问题,本发明提供了一种绑定表面反光小的芯片、显示面板及显示装置。

为了达到上述发明目的,本发明采用了如下的技术方案:

根据本发明的一方面,提供了一种芯片,所述芯片包括连接绑定表面、连接线路部、标记部和绝缘的吸光层,所述连接线路部和所述标记部设置于所述连接绑定表面上,所述吸光层覆盖在所述连接绑定表面的未被所述连接线路部和所述标记部占据的部分上,所述吸光层用于将照射于其上的光线全部吸收。

进一步地,所述吸光层由碳毫微管形成。

进一步地,所述吸光层的厚度为0.05mm-0.1mm。

进一步地,所述吸光层对照射于其上的光线的吸收率不小于99.8%。

根据本发明的另一方面,也提供了一种显示面板,包括显示部和位于所述显示部侧边的绑定部,所述显示面板还包括电连接结构和上述的芯片,所述芯片的连接线路部通过所述电连接结构连接到所述绑定部。

进一步地,所述电连接结构包括异方性导电胶层。

进一步地,所述显示面板为液晶显示面板或者OLED显示面板。

根据本发明的另一方面,还提供了一种显示装置,包括上述的显示面板。

本发明的有益效果:本发明通过在芯片的连接绑定表面设置绝缘的吸光层,覆盖连接表面上的除连接线路部、标记部外的区域,吸光层将照射于其上的光线吸收,从而降低连接绑定表面对AOI光源的反射率,提高AOI检测设备的检测效果,降低出货品质风险的目的。

附图说明

通过结合附图进行的以下描述,本发明的实施例的上述和其它方面、特点和优点将变得更加清楚,附图中:

图1是根据本发明的实施例一的芯片的俯视图;

图2是根据本发明的实施例一的芯片的侧视图;

图3是根据本发明的实施例二的显示面板的结构示意图。

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