[发明专利]使用非易失性存储器来实施非易失性计数器的方法和系统

说明书

公开了一种使用非易失性存储器来实施非易失性计数器的方法。在实施例中，所述方法涉及分配以下操作：将计数器的低位字跨越所述非易失性存储器中的存储器阵列中的存储器单元存储在非易失性存储器中；和将所述计数器的另外位在所述非易失性存储器中存储在所述存储器阵列外部的存储器单元中，其中基于所述计数器的较高位来针对每一计数确定所述存储器阵列中存储所述低位字的部位。

技术领域

本发明涉及一种使用非易失性存储器来实施非易失性计数器的方法。

背景技术

电子装置中的非易失性、非递减计数器中存在许多应用。举例来说，出于安全性检查或为了避免计数器发生重算攻击，可使用此类计数器来对集成电路(IC)装置对打印盒上电的次数计数从而对打印次数计数，以作为对打印盒的防伪测量。随着增加在电子装置中使用例如电可擦除可编程只读存储器(EEPROM)的非易失性存储器，在非易失性存储器中实施非易失性、非递减计数器变得合乎期望。

使用非易失性存储器来实施计数器的一种解决方案是实施将值存储在存储器单元中的二进制计数器。然而，在执行了数个编程周期之后，某些类型的非易失性存储器中的存储器单元可能会损耗并变得不可靠。在非常庞大的计数的情形中，可以在存储器单元损耗并变得不可靠之前执行的编程周期数目可以是限制因素。通常，将针对每一计数对存储最低有效位的存储器单元编程或擦除存储最低有效位的存储器单元，这将导致存储最低有效位的存储器单元比非易失性存储器中的其它存储器单元更早地损耗或变得不可靠。因此，相较于可以对供存储最低有效位否则可能使计数损毁的存储器单元执行的编程周期的数目，使用存储器单元可能会损耗并变得不可靠的一种类型的非易失性存储器的计数器通常不可以计数得更高。

发明内容

根据本发明的实施例，公开一种使用非易失性存储器来实施非易失性计数器的方法。在实施例中，所述方法涉及分配以下操作：将计数器的低位字跨越所述非易失性存储器中的存储器阵列中的存储器单元存储在非易失性存储器中；和将所述计数器的另外位在所述非易失性存储器中存储在所述存储器阵列外部的存储器单元中，其中基于所述计数器的较高位来针对每一计数确定所述存储器阵列中存储所述低位字的部位。

在第二实施例中，一种将所述计数器的所述低位字存储在非易失性存储器中的操作涉及：当将位设置成1时，对所述存储器阵列中的存储器单元编程；和当将被设置成1的位设置成0时，擦除所述存储器阵列中的存储器单元。

在另一实施例中，所述存储器阵列包括数目至少等于所述低位字中的位的数目的存储器页面。

在另一实施例中，在执行将所述计数器的所述低位字存储在非易失性存储器中的操作之前，所述方法涉及：从所述存储器阵列外部的存储器页面读取所述计数器的所述另外位；根据所述另外位确定X偏移和Y偏移；和从等于所述Y偏移的存储器单元位置处的存储器单元开始从所述存储器阵列读取所述低位字，所述存储器单元在索引等于所述X偏移的所述存储器阵列内的存储器页面上。