[发明专利]用于加载显示器的图像校正数据的系统与方法

说明书

有源矩阵有机发光二极管(AMOLED)显示器显示出以像素为单位的亮度差异，这主要是由于工艺或者构造的不均等性引起的或者由随着时间的推移的有效使用而导致的老化引起的。为了便于图像校正，利用诸如电气测量法或者电气测量法和光学测量法的组合等方法来获得初始非均匀性校正数据。通常，校正数据然后被储存在显示模块本身的非易失性存储器芯片上。所提出的发明提供了一种用于存储和加载图像校正数据的替代方法，由此消除了显示模块对于存储器芯片的需求。

相关申请的交叉引用

本申请要求于2017年5月17日提交的美国专利申请第15597947号的优先权，其全部内容通过引用的方式并入本文。

技术领域

本发明涉及显示器的图像校正，尤其涉及用于加载和保存显示器的图像校正数据的系统与方法。

背景技术

有源矩阵有机发光二极管(Active-Matrix Organic Light-Emitting Diode:AMOLED)显示器在本领域中是已知的。因为多晶硅和金属氧化物半导体具有低的成本并且薄膜晶体管液晶显示器(TFT-LCD)制造的基础设施相对完善，所以多晶硅和金属氧化物半导体是在AMOLED显示器中经常使用的材料。

通常，LED和AMOLED显示器在制造后需要某种形式的图像校正。所有的LED和AMOLED显示器不管背板技术如何，都显示出以像素为单位的亮度差异，这主要是由于工艺或构造的不均等性引起的或者由随着时间的推移的有效使用所导致的老化引起的。显示器的亮度非均匀性也可能是由于LED和OLED材料本身的化学和性能的天然差异所引起的。这些非均匀性必须通过LED和AMOLED显示器电子设备来解决，以使显示设备达到商业上可接受的性能水平，以供大众市场使用。

对于给定的显示器来说，为了便于图像校正，通常在单一化(singularization)之前或者之后在模块级从显示器光学地获取初始非均匀性校正数据。诸如电气测量法或者电气测量法和光学测量法的组合等其他方法也可以用于获取校正数据。如通过引用的方式并入本文的美国专利第7868857号所公开的，校正数据然后被储存在显示模块本身的非易失性存储器(non-volatile-memory:NVM)芯片上。额外的NVM存储器芯片增加了显示模块的成本，并且消耗宝贵的功率和电路板表面积。

本发明的目的是通过提供一种远离显示模块存储和加载图像校正数据的方法来克服现有技术的缺点，由此消除产品对NVM的需求。

发明内容

因此，本发明涉及一种在最终产品中使用的显示系统的图像校正数据的加载方法，所述方法包括：

在组装到所述最终产品中之前确定所述显示系统的初始校正数据以校正初始非均匀性；

将所述初始校正数据存储在与所述显示系统和所述最终产品分开的远程存储器中；

组装包括所述显示系统和远离所述显示系统的内存存储器的所述最终产品；

从所述远程存储器下载所述初始校正数据，并且将所述初始校正数据存储在所述最终产品上的所述内存存储器中；并且

将所述初始校正数据从所述内存存储器传输到所述显示系统以校正所述显示系统。

本发明还涉及一种用于视频显示产品中的显示系统，所述视频显示产品包括视频源和包括所述显示系统的初始校正数据的内存存储器，所述显示系统包括：

数字数据处理器，其用于经由视频接口从所述视频源接收数字形式的亮度数据；

数据驱动IC，其用于将所述亮度数据从数字形式转换为电压或者电流形式；

多个像素电路，每个像素电路包括薄膜晶体管(TFT)和有机发光二极管(OLED)以用于将所述电压或者电流转换为可见光；